Gebraucht ANRITSU MP1777A #114822 zu verkaufen

ANRITSU MP1777A
ID: 114822
jitter analyzer Includes: Option 02: 2666M/5332M/10664M jitter Option 10: high sensitive input of 0.15 to 1.3 Vp-p.
ANRITSU MP1777A ist ein elektronisches Mehrzweck-Prüfgerät (ETE), das für die Prüfung und Messung einer Vielzahl von Parametern in der Entwicklung und Produktion von elektronischen Komponenten, Systemen und Teilsystemen konzipiert ist. MP1777A bietet Funktionen wie LCR (Inductance, Capacitance, Resistance) -Messung, Transistortests, anspruchsvolle Oszilloskop-Fähigkeiten, Kommunikationstests und -analysen sowie Datenprotokollierung. ANRITSU MP1777A bietet eine Vielzahl von Messmöglichkeiten. LCR-Messungen umfassen Induktivität, Kapazität, Resonanzfrequenz, Q (Qualitätsfaktor), Dämpfungskoeffizient und Diodentest. Messparameter sind anpassbar, um eine breite Palette von Frequenzen zu behandeln. Seine Transistor Testing Fähigkeiten ermöglichen die Messung der Hfe und Vcb Parameter einer Schaltung. Darüber hinaus verfügt es über Oszilloskop-Funktionalität mit maximaler Bandbreite von 200MHz, 500 μ s/div bis 0,5 μ s/div sweep Zeit und 5 mV/div bis 10 V/div vertikalen Bereich. Das Instrument bietet auch Kommunikationstest-Funktion, die Bluetooth, ZigBee, NFC, Wi-Fi, RFID und verschiedene andere Kommunikationsprotokolle unterstützt. Es kann verschiedene Arten von Signalen zum Testen von Kommunikationsprotokollen erzeugen. Es kann auch die Antworten analysieren, so dass eine gründliche Prüfung des gesamten Protokolls. Diese Funktion eignet sich besonders zur Validierung von Kommunikationsprotokollen in der Produktentwicklung. MP1777A bietet auch Protokollierungsfunktionen, damit der Benutzer Ergebnisdaten im internen Speicher oder auf einem USB-Laufwerk speichern kann. Das Gerät verfügt über ein integriertes Datenanalysemodul, das es dem Benutzer ermöglicht, die Ergebnisse zu überprüfen, Berichte zu erstellen und komplexe Visualisierungen zu erstellen. Dies erleichtert die Identifizierung von Datentrends und die Ermittlung der Ursache von Testfehlern oder -problemen. ANRITSU MP1777A enthält auch verschiedene andere Funktionen wie Gruppenscan, Verarbeitungsgeschwindigkeit von Signalen von bis zu 500MS/s, intelligente Scan-Fähigkeit zur Geräteverifizierung, eine Dual-Channel-Funktion zur Messung von Parametern aus den beiden Quellen. All diese Fähigkeiten machen MP1777A zu einem idealen Instrument für die Entwicklung und Produktion elektronischer Bauteile.
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