Gebraucht ANRITSU MS710F #9100825 zu verkaufen
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ANRITSU MS710F ist ein elektronisches Testgerät zur Bewertung und Überwachung der Leistung von Hochfrequenzgeräten auf lokaler oder globaler Ebene. Dieses Instrument wurde mit Blick auf eine effiziente Signalanalyse und eine vielseitige Bedienung entwickelt. Es bietet eine Vielzahl von nützlichen Funktionen zur Untersuchung sowohl digitaler als auch analoger HF-Signale. MS710F verfügt über den weltweit höchsten Frequenzbereich (125kHz-40GHz) und ist somit für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet. Seine Hochgeschwindigkeits-Messeinheit ist in der Lage, Fehler in der Signalqualität bis zu 4GHz zu schätzen. Die Dual-Beam Trace von ANRITSU MS710F verfügt über zwei simultane Strahlmonitore, die in der Lage sind, eine Vielzahl von Spuren in einer Messung anzuzeigen. Darüber hinaus eignen sich mit dem Small Pulse Generator seine Signalanalysefähigkeiten zur Messung der Leistungsfähigkeit von Halbleiterbauelementen und zur Prüfung von Subkomponenten. MS710F bietet Verzerrungsmessungen zur Bestimmung nichtlinearer Eigenschaften wie Harmonika- und Intermodulationsleistungen. Es hat auch spektrale Maskierung und ACPR-Messungen, sowie Marker Tracking, Limit-Test, Vektor-Netzwerk-Analysator, Leistungsmessung und Distributed Amplifier Funktionalitäten. ANRITSU MS710F verwendet ein rückverfolgbares Kalibriersystem auf Basis einer externen Kalibriereinheit. Diese einzigartige Funktion ermöglicht es dem Benutzer, MS710F mit hochgenauen und stabilen Referenzports zu kalibrieren. Das Instrument verfügt über eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) -basierte Software, die benutzerfreundliche und intuitive Menüs und Steuerelemente bietet. Diese Schnittstelle vereinfacht und beschleunigt den Datenerfassungsprozess und macht das Gerät für ein breites Anwendungsspektrum geeignet. ANRITSU MS710F ist für kritische Messaufgaben in der HF-Konstruktion und Produktionsprüfung konzipiert. Es ist sehr zuverlässig und in der Lage, einen weiten Frequenzbereich, bietet hervorragende Leistung und Langzeitstabilität für Hochfrequenzanwendungen.
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