Gebraucht CLARKE-HESS 255 #9221391 zu verkaufen

CLARKE-HESS 255
ID: 9221391
V-A-W Digital meter.
Das elektronische Testgerät CLARKE-HESS 255 ist ein vielseitiges, vielseitiges elektronisches Testgerät für den Einsatz in Laboren, Forschungseinrichtungen und Testzentren. Es ist eine komplette Ausrüstung für die Analyse, Prüfung und Überwachung von elektronischen Signalen aus analogen und digitalen Quellen. 255 ist eine flexible und umfassende Suite von Testwerkzeugen, die es ideal für die meisten Arten von Testaufgaben machen. CLARKE-HESS 255 enthält zwei Hauptabschnitte: die Steuereinheit und den Signalanalysator. Die Steuereinheit wird von einem Laptop oder PC-Schnittstelle betrieben, und es kann für eine Vielzahl von Testszenarien programmiert werden. Beispielsweise kann die Steuereinheit so konfiguriert sein, dass sie einen Frequenzzug durchführt, eine harmonische Verzerrung misst oder eine Reihe von Tests durchführt. Mit dem Signal Analyzer werden analoge und digitale Signale gemessen und analysiert. Es ist mit drei DSP-Kanälen (Digital Signal Processor) zur Messung verschiedener Signalparameter wie Frequenz, Phase, Amplitude, Amplitude/Frequenzgang, Pulsbreiten, Anstiegs-/Abfallzeiten und Zeitauflösung von Signalen ausgestattet. Darüber hinaus kann es verwendet werden, um Wellenformen aus analogen Signalen zu erfassen und vorhandene digitale Signale zu decodieren. 255 ist ein leistungsfähiges, aber kompaktes Testsystem mit einer einfach zu bedienenden grafischen Benutzeroberfläche für einfache Einrichtung und Steuerung. Es ist mit einem robusten Chassis gebaut, ausgestattet mit einem Aluminium-Druckguss-Basis für Portabilität. Es läuft entweder mit 110V Wechselstrom oder 220V Wechselstrom und verfügt über eine eingebaute Stromschutzeinheit bei einem Stromstoß. Die digitalen Ein-/Ausgänge sind RS-232 kompatibel und somit mit den meisten digitalen Instrumenten kompatibel. CLARKE-HESS 255 ist eine umfassende Prüfmaschine, die für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Es kann in der Produktionsbahnprüfung für Quellkomponententeile und Baugruppen oder in umfassenden Werkzeug- und Teilsystemprüfungen für die Produktentwicklung verwendet werden. Es eignet sich ideal zum In-Circuit-Test und zur Fehlerbehebung von Schaltkreisen sowie zur -Monitoring und Bewertung der Leistung eines gesamten elektronischen Geräts. Es kann sogar zur fortgeschrittenen statistischen Analyse von Daten verwendet werden, um Probleme zu ermitteln und Ursachen zu identifizieren.
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