Gebraucht FILMETRICS LS-DT2 #293624634 zu verkaufen
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FILMETRICS LS-DT2 ist ein fortschrittlicher manueller optischer Profiler, der eine duale Richtungstechnik verwendet, um Materialoberflächenprofile zu messen. Dieses Gerät wurde entwickelt, um 3D-Bilddaten mit hoher Genauigkeit zu erfassen, sodass der Benutzer Oberflächenmerkmale im Nanometermaßstab auf Materialien analysieren kann. Dieser Profiler bietet die besten Rundum-Funktionen: hochauflösende Bildgebung, intuitive Software, umfassende Datenanalyse und vieles mehr. LS-DT2 ist ein kontaktloser Profiler, der mit einem robusten Design zuverlässige, wiederholbare Messungen liefert. Seine duale Richtungstechnik misst Materialoberflächenprofile aus zwei Richtungen und liefert hochgenaue Bilddaten, die zur Identifizierung von Oberflächentopographiefehlern oder -rauhigkeiten verwendet werden. Dieser Profiler ist in der Lage, nanoskalige Bilddaten zu erfassen und kann Höhen bis zu 10 Millimeter messen. FILMETRICS LS-DT2 bietet zwei Möglichkeiten für die Bildgebung: das Standard-Zoom-Ziel oder das optionale Long-Working-Distance-Ziel. Das Zoomobjektiv bietet die höchste Auflösung, während das optionale Objektiv eine größere Palette von Vergrößerungen ermöglicht, ohne die Fokusstufe bewegen zu müssen. Die Software verfügt über intuitive und einfach zu bedienende Tools, die den Analyseprozess vereinfachen und Benutzerfehler reduzieren sollen. Das Programm kann eine Vielzahl von Merkmalen wie Schritthöhen, Gipfel und Täler und andere Nanoskala-Merkmale auf der gemessenen Oberfläche erkennen. Dieses Instrument bietet eine Reihe fortschrittlicher Datenanalysemethoden wie Peak/Valley-Analyse, Linienprofilanalyse, Fourier-Analyse und vieles mehr. Dieser Profiler ist vollgepackt mit High-End-Funktionen und Aufnahmesystemen, die es zu einem leistungsstarken Gerät für Qualitätskontrolle Prüfung und Forschung machen. Zusammen mit seiner hochwertigen Bildgebung, intuitiver Software und umfassender Datenanalyse ist LS-DT2 eine ausgezeichnete Wahl für diejenigen, die nanoskalige Oberflächenmerkmale messen möchten.
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