Gebraucht FURUKAWA S175-V2000 #9106059 zu verkaufen

ID: 9106059
Splicer Silica glass based optical SM / MM/ DSF fibers Coating / Clad Dia: 0.25-0.9mm / 0.1-0.15mm Cleave Length: standard 16mm optional 10mm Average loss:SM: 0.02dB MM: 0.01dB DS: 0.04dB(with identical Furukawa fibers) Reflection: -60dB or lower Estimation accuracy: +/- 0.05dB (loss <0.4dB), +/- 15% (loss>0.4dB) Operating time: Splice: 20s (typical),Heat: 90s (typical for S921) Tension test: 200g (0.4lbs), option 440g (0.9lbs) Attenuation splice: 0 to 10 db by 0.1 db 32 Splice Program with one Auto splice mode 4 pre-programmed. 28 customisable Inspection: Cleave angle, Fibre end gap, core eccentricity, offset, tilt, micro bending, Bubble at spliced point Display information: operating message, ARC counter, clock, heater status, estimation loss, finder image X Y view.
FURUKAWA S175-V2000 ist ein multifunktionales digitales elektronisches Testinstrument mit erweiterten Schaltkreisen, Signalverarbeitungs- und digitalen Kommunikationsmöglichkeiten. Es ist für den Einsatz in Forschung und Entwicklung, Produktion, Wartung und Wartung Anwendungen konzipiert. Es hat die Fähigkeit, verschiedene Arten von Labor- und Testgeräten zu diagnostizieren und zu beheben. Kern der S175-V2000 ist ein leistungsfähiges frequenzbasiertes Signalanalysesystem, das die Analyse mehrerer komplexer Signale auf einmal ermöglicht und leistungsstarke Signalmessdaten für detaillierte Auswertung und Vergleich liefert. Sein 14-Bit-Analog-Digital-Wandler gibt ihm eine hohe Abtastrate, so dass er eine ganze Reihe von Signalmerkmalen einschließlich Hochfrequenzkomponenten erfassen kann. Dieser leistungsstarke Signalanalysekern verfügt über mehrere dedizierte Verarbeitungssteckplätze für Software-Upgrades wie DSP und FFT. Das Instrument verfügt auch über einen integrierten 8-Bit-Flash-Speicher, um große Datenmengen zu speichern. FURUKAWA S175-V2000 verfügt über ein breites Spektrum an Test-, Mess- und Steuerungsanwendungen. Es kann verwendet werden, um eine Vielzahl von elektronischen Komponenten und Geräten zu messen, zu warten und zu beheben. Es kann Signaleigenschaften wie Frequenz und Amplitude sowie Zeitbereichsleistung erkennen und analysieren. Es kann Signale wie digitale und analoge, Leistung, HF und optische analysieren. Darüber hinaus ist es in der Lage, Bauteiltests wie Transistoren, Dioden und Relais sowie Inspektions- und Verifizierungseinrichtungen und Leiterplatten durchzuführen. S175-V2000 ist mit mehreren Anzeigetypen ausgestattet, darunter ein farbiges LCD-Display und ein Vollbild-Touchpanel. Dies erleichtert die intuitive Bedienung und die Eingabe von Messungen, Einstellungen und Betriebsparametern. Darüber hinaus verfügt es über Speicher- und Datenübertragungsfunktionen. Daten aus dem Instrument können auf einem USB-Stick, PC oder PDA gespeichert oder direkt ausgedruckt werden. FURUKAWA S175-V2000 kommt mit der höchsten Bauqualität, so dass es eine ideale Wahl für jedes Labor und Teststation. Es wird mit Hochleistungskomponenten gebaut und liefert genaue, zuverlässige Ergebnisse heute und für viele Jahre zu kommen. Es wurde strengen Tests unterzogen, um sicherzustellen, dass es die anspruchsvollsten Anforderungen erfüllt und einsatzbereit ist. Das Instrument wird mit einer Herstellergarantie für zusätzliche Sicherheit geliefert.
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