Gebraucht FURUKAWA S175 #9105842 zu verkaufen

ID: 9105842
Splicer Silica glass based optical SM / MM/ DSF fibers Coating / Clad Dia: 0.25-0.9mm / 0.1-0.15mm Cleave Length: standard 16mm optional 10mm Average loss:SM: 0.02dB MM: 0.01dB DS: 0.04dB(with identical Furukawa fibers) Reflection: -60dB or lower Estimation accuracy: +/- 0.05dB (loss <0.4dB), +/- 15% (loss>0.4dB) Operating time: Splice: 20s (typical),Heat: 90s (typical for S921) Tension test: 200g (0.4lbs), option 440g (0.9lbs) Attenuation splice: 0 to 10 db by 0.1 db 32 Splice Program with one Auto splice mode 4 pre-programmed. 28 customisable Inspection: Cleave angle, Fibre end gap, core eccentricity, offset, tilt, micro bending, Bubble at spliced point Display information: operating message, ARC counter, clock, heater status, estimation loss, finder image X Y view.
FURUKAWA S175 ist ein leistungsstarkes elektronisches Testgerät von FURUKAWA Electric Co. Ltd. Dieses elektronische Prüfgerät ermöglicht es Ingenieuren und Technikern, die Parameter eines Geräts schnell und genau auszuwerten. S175 ist ein hochentwickeltes Testsystem, das simultane Tests in mehreren Testsystemen durchführen kann. Dadurch kann das Gerät über unterschiedliche Parameter zahlreiche Messwerte desselben Gerätes erfassen. Dies reduziert den Bedarf an aufwändigem Austausch, da genauere Messungen zu geringeren Kosten vorgenommen werden können. FURUKAWA S175 kommt mit einer Reihe von Mess- und Kontrollfunktionen. Seine Bedienoberfläche bietet eine benutzerfreundliche Erfahrung beim Navigieren in den Menüoptionen. Diese Merkmale eignen sich für komplexe Prüfverfahren, wie sie für die Prüfung von Halbleiterbauelementen erforderlich sind. S175 ist mit integriertem leistungsstarken Computing konzipiert, so dass die Tests schnell und effizient durchgeführt werden können. Die automatisierte Analyse und Anzeige der Ergebnisse verringert den manuellen Aufwand und ermöglicht eine höhere Effizienz sowohl bei der Testanalyse als auch beim Debugging. Damit eignet es sich ideal für den Einsatz in automatisierten Produktionslinien sowie in Forschung und Entwicklung. FURUKAWA S175 enthält eine Vielzahl von Ausgangsports, einschließlich digitaler und analoger, so dass es einfach an viele verschiedene Arten von Gerät im Test angeschlossen werden kann. Dadurch können auch verschiedene Arten von Testdaten gleichzeitig erhoben, gespeichert und analysiert werden. Beispielsweise ist S175 in der Lage, Querschnittsdaten wie Timing oder Signaleigenschaften zu verfolgen und zu speichern, wodurch der Tester ein viel detaillierteres Verständnis der Leistung des Geräts erhält. FURUKAWA S175 bietet auch eine Auswahl an Auslöseoptionen, so dass der Benutzer die Bedingungen definieren kann, die das Testverfahren einleiten. Dadurch erhält der Anwender eine große Kontrolle über den Prüfvorgang, so dass Tests möglichst effizient durchgeführt werden. S175 wurde entwickelt, um die härtesten Standards der Elektronikindustrie zu erfüllen und sicherzustellen, dass sie für alle Arten von Tests zuverlässig ist. Diese Testmaschine ist auch leicht und hoch tragbar, so dass sie ideal für den Einsatz in Bewegung ist. Insgesamt ist FURUKAWA S175 eine ausgezeichnete Wahl für jeden Ingenieur oder Techniker, der ein umfassendes Testwerkzeug für die Auswertung elektronischer Geräte benötigt.
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