Gebraucht KEITHLEY 4200-SCS/F #293645288 zu verkaufen

KEITHLEY 4200-SCS/F
ID: 293645288
Semiconductor characterization system (6) 4200-SMU High power SMU (6) 4200-PA Remote PreAmp 4200-SCP2 4205-PG2.
KEITHLEY 4200-SCS/F ist ein elektronisches Testgerät, das die Prüfung von Halbleiterscheiben und -bauelementen wie Dioden, Transistoren, Kondensatoren, Induktoren und Widerständen initiiert, durchführt und automatisiert. Das System wurde entwickelt, um die Testzeit zu reduzieren und den Ertrag zu verbessern, indem Hochgeschwindigkeitstests durchgeführt und mehrere Technologiefunktionen kostengünstig in eine einzige Plattform integriert werden. Das System besteht aus einem Mainframe, einer Precision Measurement (PMU) und einem Probe Rack. Der Mainframe ist die Kommando- und Leitstelle des Systems und ermöglicht es dem Anwender, das Instrument über die mitgelieferte Software zu steuern. Es umfasst eine Reihe von Funktionen wie: Datenerfassung, Datenanalyse, Mustergenerierung, Hardware-Debugging und Instrumentenmessung. Die Precision Measurement Unit (PMU) erfasst und verarbeitet den Input der Sonden. Es bietet eine breite Palette von Fähigkeiten wie: DC-Messungen, Wechselstrommessungen, Pulsmessungen, digitale Messungen, dynamische Linearitätsmessungen und Rauschbodenanalysen. Es hat auch integrierte Unterstützung für Ethernet, GPIB und USB-Schnittstellen. Das Sondengestell speichert die für die Prüfung und Messung verwendeten Sondenkarten und Sensoren. Es kommt mit einer Vielzahl von Zubehör wie: Sondenkarten, Sonden, Sondenständer, Probenhalter, statische Wafer Handler, Wafer Clips und Wafer Klemmen. KEITHLEY 4200 SCS/F verfügt über einen leistungsstarken automatisierten Testablauf, mit dem Benutzer ihre Tests schnell und einfach konfigurieren können. Der automatisierte Testablauf enthält eine Schritt-für-Schritt-Anleitung mit Diagrammen und Hilfedateien, die detaillierte Informationen über die Testelemente und ihre Eigenschaften liefern. Die anpassbare Testumgebung ermöglicht es Benutzern, ihre Testbedingungen schnell einzurichten, ihre gewünschten Messparameter auszuwählen und ihren gewünschten Testablauf anzugeben. Die Ergebnisse der Tests können schnell in andere kompatible Systeme wie Datenbanken, Tabellenkalkulationen und Textdateien exportiert werden. 4200 SCS/F ist ideal für Anwendungen mit hohem Durchsatz, die schnelle, genaue Messungen erfordern. Es hat eine breite Palette von Anwendungen, einschließlich Gerätecharakterisierung, parametrische, Zuverlässigkeitsprüfung und Prozessqualifikationen. Darüber hinaus ist es auf Robustheit und Leistung ausgelegt, so dass es für alle Arten von Halbleiterscheiben und Geräteprüfungen geeignet ist.
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