Gebraucht KEITHLEY 4200-SCS/F #293645290 zu verkaufen
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ID: 293645290
Semiconductor characterization system
(8) 4200-SMU High power SMU
(8) 4200-PA Remote PreAmp.
KEITHLEY 4200-SCS/F ist eine fortschrittliche, universelle Halbleitercharakterisierungseinrichtung, die für den Einsatz in einer Vielzahl von leistungskritischen Anwendungen geeignet ist. Das System ist in der Lage, elektrische Standardparameter wie Spannung, Strom, Widerstand und Kapazität zu messen sowie Hochgeschwindigkeitssondierung und Steuerung zur dynamischen Charakterisierung bereitzustellen. Das Gerät besteht aus vier Hauptkomponenten - einem integrierten Schaltermodul, einem Source-Measure Unit (SMU) Mainframe, einem Switching Mainframe Chassis und einer integrierten Testmaschinensteuerung. Jedes Modul unterstützt mehrere Kanäle und verfügt über eine intelligente Werkzeuglogik, so dass Benutzer hochflexible Testpläne erstellen können. Durch die Verwendung eines großen 10,4-Zoll-Farb-Touchscreens erhalten Benutzer eine intuitive Benutzeroberfläche, die einfache Parametereinstellungen und Ergebnisanzeige ermöglicht. Das integrierte Switch-Modul des Asset bietet 64-Kanal-Multiplexing-Unterstützung und eignet sich für Anwendungen wie Prozesscharakterisierung und Ertragsverbesserung. Das Switch-Modul unterstützt sowohl DC- als auch AC-Switching und hat die Fähigkeit, Signalfehler automatisch zu erkennen und wiederherzustellen. Das SMU Mainframe verfügt über zwei unabhängige 4-Quadranten-Quellen und zwei unabhängige 6 ½ stellige digitale Multimeter, die einen gleichzeitigen Quellmessbetrieb ermöglichen. Das Gerät eignet sich für Präzisions-DC/Niederfrequenztests und bietet schnelle und genaue Messungen von Spannung, Strom und Widerstand. Das Modell enthält auch ein Switch-Mainframe-Gehäuse. Dieses Gehäuse überwacht bis zu 128 einzelne Schalterpaare, die eine grundlegende elektrische Charakterisierung unterstützen und eine zusätzliche Instrumentierung ermöglichen. Schließlich ermöglicht das CLI C die Integration anderer Geräte in das Gerät, einschließlich Generatoren, Sensoren und optischen Instrumenten. Es bietet auch umfassende Systemüberwachungs- und Steuerungsfunktionen. Insgesamt ist die erweiterte Charakterisierungseinheit KEITHLEY 4200 SCS/F ein ausgezeichnetes Werkzeug für Halbleitercharakterisierungs- und Prozesssteuerungsanwendungen. Die modulare Maschinenarchitektur, die intuitive Touchscreen-Oberfläche und das umfassende Angebot an Testfunktionen machen es zu einer vielseitigen und kostengünstigen Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen.
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