Gebraucht KEITHLEY 4200-SCS #293749947 zu verkaufen

4200-SCS KEITHLEY ist ein fortgeschrittenes Präzisionshalbleitercharakterisierungssystem, das für die genaue und umfassende Analyse von elektrischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien entworfen ist. KEITHLEY 4200 SCS bietet eine breite Palette von Testfunktionen und automatisierten Messverfahren mit einer anpassbaren Benutzeroberfläche. Seine leistungsstarke Architektur vereint zwei Präzisionsquellen/Messinstrumente und einen PC-basierten Controller und bietet eine Plattform zur genauen und konsistenten Gerätecharakterisierung. 4200-SCS beinhaltet zwei SMU SourceMeter® Instrumente, die jeweils einen ein- oder zweikanaligen Betrieb bieten. Die SourceMeter-Instrumente bieten Strom- und Spannungsquellen mit hoher Bandbreite, einen gleichzeitigen 4-Quadranten-Betrieb und eine Messgenauigkeit von bis zu 300 μ V und 0,7 fA Auflösung. 4200 SCS unterstützt eine Vielzahl von Parametern und Prüfmethoden, wie sie in JEDEC- und IEC-Standards spezifiziert sind, und verfügt über drei TempBridge-Systeme zur thermischen Analyse und Charakterisierung von thermischen Übergangsmessungen. Das System unterstützt auch eine breite Palette nützlicher automatisierter Wafer-Handler und Probenträger für Wafer- und Packungstests. KEITHLEY 4200-SCS verfügt über mehrere Software-Tools, um die Testfunktionen des Benutzers zu verbessern. Zu diesen Tools gehören eine leistungsstarke grafische Benutzeroberfläche für Programmierung und Datenanalyse, KEITHLEY Measurement Manager für die Erstellung und Ausführung automatisierter Testverfahren sowie ein LabView™ Plug-in für die Erstellung von LabView-Instrumenten und -Anwendungen. Um den Programmieraufwand zu reduzieren und Tests zu beschleunigen, enthält KEITHLEY 4200 SCS eine Bibliothek mit Quellmess- und thermischen Charakterisierungstestsequenzen. 4200-SCS ist ein vielseitiges System mit einem präzisen Design und Fähigkeiten, um genaue und wiederholbare Messungen von elektrischen Parametern zu ermöglichen. Die leistungsstarke Architektur, erweiterte Softwarefunktionen und automatisierte Wafermaßnahmen bieten eine Plattform, die eine breite Palette von Gerätecharakterisierungen ermöglicht.