Gebraucht KEITHLEY 4200-SCS #9404531 zu verkaufen
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ID: 9404531
Parametric analyzer
(2) 4200-SMU Medium power measure unit with preamp modules
(2) Triax-to-triax cables.
KEITHLEY 4200-SCS ist ein fortschrittliches Halbleitercharakterisierungssystem (SCS). Es ist eine integrierte, automatisierte Testplattform, die die Messung fortschrittlicher Halbleiterbauelementeigenschaften von Anfang bis Ende in kürzester Zeit beschleunigen soll. Es bietet einen integrierten, benutzerfreundlichen Ansatz für Charakterisierung, Verifizierung und Gerätequalifizierung. KEITHLEY 4200 SCS verfügt über fortschrittliche Mess- und Analysewerkzeuge, um präzise und reproduzierbare Daten zu gewährleisten, die mit minimalem Aufwand schnell gewonnen werden können. Es besteht aus einem Steuerpult, Master-Controller/Source-Maßeinheit, einem Spektrumanalysator/Voltmeter, einem Impulsgenerator und einem Bordcomputer. Die Master-Regler/Source-Maßeinheit ist zur Messung von Spannung, Strom und Temperatur mit einer Auflösung von mehr als 1 mV und 1 mA ausgelegt. Es kann 20 mA Konformitätsstrom und bis zu 60V Konformitätsspannung liefern. Es ermöglicht dem Benutzer auch, die elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und -schaltungen genau zu steuern, zu charakterisieren und zu analysieren. Der Impulsgenerator bietet eine maßgeschneiderte Pulsrate mit Pulsdauern von 0,1 μ s bis 5 ms und kann bis zu 5 MHz Quadrat, Dreieck und Sinuswellenformen mit 0,01% Verzerrung erzeugen. Der Spektrumanalysator/Voltmeter liefert Daten von 1 Hz bis 50 MHz mit einem hohen Dynamikbereich und einem breiten Eingangsimpedanzbereich. Es ist mit einer Reihe von optionalen Zubehör, einschließlich Schaltmatrix, Niederfrequenz-Detektoren und Halbleiter-Charakterisierung Software. Der Bordcomputer von 4200-SCS umfasst Hochgeschwindigkeitsdatenerfassung, Datenverarbeitung/digitale Signalverarbeitung und Charting-/Plotingsoftware und bietet unübertroffene Möglichkeiten, um gesammelte Daten zu aussagekräftigen Ergebnissen zu machen. Das System ermöglicht es dem Anwender auch, komplexe Testprotokolle zu definieren und auszuführen, die Datenerfassung, Datenanalyse und Ergebnisberichterstattung zu automatisieren. 4200 SCS eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, von der grundlegenden Halbleitercharakterisierung bis zur komplexeren Charakterisierung und Charakterisierung von Submikronbauelementen. Es hat eine überlegene Leistung gegenüber früheren Systemen, mit erhöhter Genauigkeit und Wiederholbarkeit, schnelleren Messzeiten und effizienterer Datenverarbeitung. Seine Funktionen, Eigenschaften und Leistung machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für Labore und Designer, die eine effiziente und kostengünstige Lösung für die fortschrittliche Halbleitercharakterisierung benötigen.
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