Gebraucht SCIENTECH RVX 5000 XPS #9315829 zu verkaufen

SCIENTECH RVX 5000 XPS ist ein fortschrittliches elektronisches Prüf- und Messgerät zur Analyse von oberflächen- und oberflächennahen physikalischen und chemischen Eigenschaften von Oberflächen. Es handelt sich um eine Kombination aus mehreren fortschrittlichen Testgeräten, die umfangreiche Daten über eine Reihe von Materialien liefern. Hauptbestandteil des Systems ist das Röntgen-Photoelektron-Spektroskopie (XPS) -Instrument, das die elementare Zusammensetzung der Oberflächen sehr detailliert messen kann. XPS benötigt eine leistungsstarke Röntgenquelle, und RVX 5000 XPS wurde entwickelt, um Hochleistungsmikroskope zu verwenden, um die Röntgenstrahlen auf die Probe zu fokussieren und die emittierten Photoelektronen zu detektieren. Dadurch kann der Anwender die chemische Zusammensetzung der Probenoberfläche genau und präzise messen. Neben XPS umfasst SCIENTECH RVX 5000 XPS Oberflächenanalysemodule wie Atomic Force Microscopy (AFM) und Scanning Probe Microscopy (SPM). AFM und SPM sind hochauflösende Bildgebungstechniken, die zur Untersuchung der Oberflächenstruktur von Proben verwendet werden, z. B. zur Abbildung der Oberflächentopographie und zur Messung von Eigenschaften wie der Oberflächenrauhigkeit. Sie können auch verwendet werden, um Kraft-Weg-Kurven zu messen oder elektrische Eigenschaften von leitenden Proben zu messen. RVX 5000 XPS enthält auch Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOFSIMS) für die Analyse von Oberflächenanionen und Molekülen. TOFSIMS bombardiert eine Probe mit hochenergetischen Partikeln (Ionen), die dann von einem Array von Detektoren detektiert werden. SCIENTECH RVX 5000 XPS-Einheit ist entwickelt, um die Masse der nachgewiesenen Ionen zu analysieren, so dass die Analyse von positiven und negativen Ionen. Schließlich ist RVX 5000 XPS mit einem Raman-Spektroskopiemodul ausgestattet, das wertvolle Informationen über Oberflächenvibrationseigenschaften liefert. Die Raman-Spektroskopie arbeitet, indem sie eine Probe mit einem Laser anregt und das Streulicht analysiert, das dann spektral analysiert werden kann, um die Schwingungscharakteristik der Oberfläche aufzudecken. SCIENTECH RVX 5000 XPS ist eine fortschrittliche Test- und Messmaschine, die mehrere Werkzeuge kombiniert, um dem Benutzer die Analyse der Oberflächen- und oberflächennahen Eigenschaften oder verschiedener Materialien zu ermöglichen. Es verwendet Röntgen-Photoelektron-Spektroskopie (XPS), Atomic Force Microscopy (AFM), Scanning Probe Microscopy (SPM), Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOFSIMS) und Raman mehr Entfernungsbereich der