Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON TEB407 #293660519 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON TEB407 ist ein elektronisches Testgerät, das die Messung und Charakterisierung von Halbleiterbauelementen erleichtert. TEL TEB407 Testgeräte bieten Ingenieuren eine breite Palette von Möglichkeiten zum Testen und Charakterisieren von integrierten Schaltungen, analogen Komponenten und anderen Halbleitertypen. TOKYO ELECTRON TEB407 bietet Benutzern eine Niedrigstrom- und Hochspannungsprüffähigkeit von 0.100mA bis 40V mit der Fähigkeit, Gleichstrom- und Wechselstrommessungen zu messen. Zudem bietet die Maschine über ihre hohe Abtastrate bis zu 20kHz eine präzise Auflösung sowohl für Strom- als auch für Spannungsmessungen. Weiter rühmt sich TEB407 einer hohen Frequenzantwort von bis zu 150 Kilohertz, Benutzern erlaubend, Hochleistungstransistoreigenschaften für die Analyse sowie für das stabile Quellmaß zu gewinnen. TEL/TOKYO ELECTRON TEB407 ist kompatibel mit einer Reihe von Testmodulen, wie CPU, Logik- und Speichertester, so dass Benutzer komplexere Systeme mit mehreren Ein- und Ausgabefunktionen testen können. Es ist mit einem eingebauten grafischen Anzeigemodul von EPSON ausgestattet, mit dem Benutzer Messanzeigen in Echtzeit beobachten können. Das System wird von mehreren Softwareoptionen unterstützt, wie einem FLP-Rechner, der es Anwendern ermöglicht, Halbleiterparameter sowie einen Analysator mit einer Vielzahl von Auswertefunktionen genau zu berechnen. TEL TEB407 ist eine zuverlässige und kompakte Testeinheit, die eine Reihe von Prüf- und Charakterisierungsfähigkeiten bietet, um die Anforderungen der Halbleiterbauelementehersteller zu erfüllen. Es kann in Labor-, Produktions- und Maschinenprüfanwendungen eingesetzt werden und bietet höhere Effizienz und Zuverlässigkeit für Bauteilmessungen. Die Flexibilität der Maschine ermöglicht es Anwendern, maßgeschneiderte Testprogramme zu entwickeln und mit minimalem Aufwand eine genaue und wiederholbare Testanalyse zu erstellen. Damit ist TOKYO ELECTRON TEB407 eine praktische und kostengünstige Option für Techniker und Ingenieure, die Halbleiterbauelemente charakterisieren und analysieren möchten.