Gebraucht WAYNE KERR 3245 #9229056 zu verkaufen

WAYNE KERR 3245 ist ein DF-Messgerät (Benchtop Capacity and Dissipation Factor) zur Messung der Wechselstrom- und Gleichstromkapazität und des Dissipationsfaktors von nicht polarisierten und polarisierten Kondensatoren. Es ist ein einfach zu bedienendes, kompaktes, aber intuitives Testinstrument, das überlegene Genauigkeit und Stabilität für die Prüfung von Präzisionskondensatoren und Kapazitätsmessung über einen weiten Bereich bietet. 3245 eine Vier-Anschlüsse-Messplatte zur Verbindung mit der Messschaltung aufweist; ermöglicht eine bessere Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Messungen. Es wird auch mit einem 8-poligen DIN-Anschlusskabel und Mehrzweckkabel zum Anschluss an andere elektronische Prüf- und Messgeräte wie Oszilloskope geliefert. WAYNE KERR 3245 verfügt über ein 5-stelliges LCD-Display mit Hintergrundbeleuchtung und bietet überlegene Sichtbarkeit der Testergebnisse für den Bediener. 3245 Testgeräte eignen sich ideal für Messungen von kapazitätsarmen Kondensatoren, wie z.B. Durchführungs-, HF- und Impulskondensatoren sowie Industriekondensatoren wie Elektrolytik, Keramik und Folienkondensatoren. Es kann Kondensatoren mit einem breiten Wertebereich von 1 pF bis 200 uF messen, ohne dass eine Bereichsauswahl oder Relaisschaltung erforderlich ist. Darüber hinaus bietet dieses Gerät schnelle Messungen und genaue Testergebnisse. WAYNE KERR 3245 verfügt über einen einstellbaren Fahrschalter zur Auswahl mit automatisch kalibrierten drei Bereichen für die Kapazitätsprüfung. Es ist auch mit einem 3-stelligen numerischen Auslesen für die Prüfung von Messwerten ausgestattet. Für Messungen des Dissipationsfaktors ist das Gerät in der Lage, höhere Frequenzbereiche der Messung mit wählbaren 10-100 Hz oder 500-1000 kHz zu erfassen. 3245 ist ideal für Labore und Produktionslinien und bietet überlegene Leistungsgeschwindigkeit. Das kompakte Design und die einfache Zubehörverbindung machen es einfach zu bedienen und auf Tests vorzubereiten. Ergänzt wird dies durch die hohe Präzision und den Genauigkeitsbereich für damit geprüfte Messungen.