Gebraucht ELLIPSOTECH Elli-633-F70 #9249918 zu verkaufen

ELLIPSOTECH Elli-633-F70 Ellipsometer ist ein platzsparendes und leistungsstarkes Instrument zur Messung optischer Eigenschaften und optischer Dicken dünner Filme. Dieses Ellipsometer ist universell einsetzbar für die Überwachung eines breiten Spektrums dünner Filme wie Oxide, Nitride, Metalle und Metalllegierungen, mit Probendicken von 0,3 nm bis 4000 nm. Das innovative Design des Ellipsometers zeichnet sich durch ein hochpräzises und präzises Laser- und Probenscannersystem aus, das mit einer intuitiven Benutzeroberfläche mit einer einfach zu bedienenden, fensterbasierten Umgebung verbunden ist. Dieses System ermöglicht es dem Anwender, eine breite Palette von Dünnschichteigenschaften über große Probenflächen schnell und genau zu messen. Das Ellipsometer ist in der Lage, eine Reihe von Eigenschaften zu messen, darunter optische Dicke, Brechungsindex, Extinktionskoeffizient, optische Konstanten, Emissionsspektrum, Absorption, Einfallswinkel, Filmtyp, Dickengleichförmigkeit, Brechungsgleichförmigkeit, Wellenleiterlebensdauer, Schichtabstände und mehr. Diese Messungen können aufgrund der Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit des Systems absolut zuverlässig durchgeführt werden. Das Ellipsometer verwendet einen polarisierten Laserstrahl zur Messung der optischen Dünnschichteigenschaften. Der einfallende Strahl wird von einer Nd: YAG-Laserquelle mit einer Wellenlänge von 633 nm erzeugt und besteht sowohl aus s- als auch aus p-polarisiertem Licht. Der Einfallswinkel des Lichtes ist mit einer Winkelempfindlichkeit von 10-5 Radien einstellbar, so dass der Benutzer die optischen Eigenschaften von dünnen Filmen genau messen kann. Das Ellipsometer verwendet eine computergesteuerte Probenübersetzungsstufe und einen Probenpositionsdetektor, um eine genaue Probenpositionierung und einen optimalen Einfallswinkel zu gewährleisten. Auf diese Weise kann das Gerät die optischen Eigenschaften von dünnen Filmen mit überlegener Genauigkeit und Wiederholgenauigkeit präzise messen, so dass die Anwender optische Eigenschaften über Zeitskalen von Stunden, Tagen oder sogar Monaten je nach Zielsetzung genau beurteilen können. Das Ellipsometer kann auch über einen vernetzten PC mit Zugriff auf professionelle Software ferngesteuert werden. Dies ermöglicht es Benutzern, auf das Instrument zuzugreifen und seine Messungen von überall auf der Welt durchzuführen, was es extrem einfach und bequem macht, sowohl einfache als auch komplexe optische Messungen durchzuführen. Das Ellipsometer ist einfach zu bedienen und bietet eine leistungsstarke Leistung für die Messung von Dünnschichteigenschaften. Es ist mit branchenführender Haltbarkeit und Robustheit konzipiert, um genaue und zuverlässige Messungen über lange Zeiträume zu gewährleisten. Die grafische Echtzeit-Darstellung der optischen Eigenschaften macht dieses Gerät einfach zu bedienen und hilft den Anwendern, die optimalen optischen Parameter für ihre Messungen schnell zu erkennen.