Gebraucht ELLIPSOTECH Elli-SE-F #9117366 zu verkaufen

ELLIPSOTECH Elli-SE-F Ellipsometer ist ein ausgezeichnetes Werkzeug zur Dünnschichtcharakterisierung und Qualitätskontrolle. Es ermöglicht zerstörungsfreie, schnelle und genaue Messungen von Filmdicke, Zusammensetzung und optischen Konstanten. Das Ellipsometer liefert sofortige Ergebnisse der Reflexion von sowohl s- als auch p-polarisiertem Licht von jeder Art von Oberfläche, einschließlich planarer und kreisförmiger Oberflächen. Ausgestattet mit einer automatisierten optischen Ausrüstung bietet es eine schnelle, genaue und zuverlässige Analyse aller Folienschichten mit einer Probenfläche von bis zu 25 mm Durchmesser. Elli-SE-F verwendet ein vier Achsen lufttragendes Y-Z-WA-WP optisches System, das das einfallende Licht genau auf die Probenoberfläche ausrichten und das reflektierte Licht von der Probe über eine CCD-Kamera aufnehmen kann. Diese Einheit ist mit einem Präzisionsschrittmotor zur Winkelbewegung gekoppelt, der eine genaue Lichtmodulation und damit eine präzise Messung gewährleistet. Der Motor ist winkelbeweglich bis 0,0001 °, was eine hohe Präzision der Messergebnisse ermöglicht. Das Ellipsometer verfügt zudem über eine innovative Scanbereichsauswahlmaschine mit unabhängiger Kreisabtastoption, um die Winkelbereichseinstellungen nach Schicht individuell einzustellen und das optimale Messmodell auszuwählen. Dieses Bereichsauswahlwerkzeug ermöglicht den am besten geeigneten Scanzyklus für jede einzelne Probe. Mit einer Messfläche von bis zu 25 mm ist ELLIPSOTECH Elli-SE-F in der Lage, eine größere Auswahl an Proben im Vergleich zu anderen Ellipsometern zu messen. Darüber hinaus ermöglicht die verstellbare Luftlagerung eine automatisierte Positionierung der Probe für jede Welligkeitsmessung. Der Probenhalter ist ebenfalls ergonomisch aufgebaut und liefert mit minimalem Aufwand sehr wiederholbare Messungen. Das Ellipsometer verfügt zudem über eine integrierte Software, die die erfassten Daten entweder auf dem Bildschirm der grafischen Benutzeroberfläche (GUI) oder in tabellarischer Form anzeigt. Dies erleichtert die Charakterisierung der Probe, wobei alle Parameter und Ergebnisse zur einfachen Analyse übersichtlich dargestellt werden. Insgesamt ist Elli-SE-F Ellipsometer ein effizientes Werkzeug zur Messung von Dünnschichtschichten, das schnelle und zuverlässige Ergebnisse mit hoher Genauigkeit liefert. Sein automatisiertes optisches Modell ist mit einem ergonomischen Probenhalter und einer Einrichtung zur Auswahl des Winkelabtastbereichs gekoppelt und ermöglicht so präzisere Messungen jeder Art von Probe mit Leichtigkeit.