Gebraucht GAERTNER L106C #116155 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 116155
Wafergröße: 6"
Large substrate ellipsometer
Manual load
Stage: 15" diameter circle, rotates 360°
Radial sliding scale: Graduated in 0.1 cm increments
Total stage travel: 19.8 cm
Variable angle model
Used for measuring coatings on 14" diameter glass disks
Alignment:
Built-in axis of rotation of incident arms is in the sample plane
Method of measurement: Rotating analyzer samples (144) data points
Detector: Solid state with auto gain feature
Incidence angle: 30°, 45°, 50°, 55°. 60°, 65°. 70°, 75°, 80°, 90°
Light source: HeNe 6328A Laser gives less than 1 mW output on sample
Beam diameter (Standard): 1 mm diameter (1 X 3mm on wafer @ 70°)
Measurement time: 3 Seconds
Sample monitor:
(39) Power microscopes for surface viewing
Tilt monitor for checking sample out of flatness
Sample (wafer) size:
6" Diameter standard
3" Linear
360° Rotary motion covers any point on a 6" diameter wafer
Interface: RS232
Computer: IBM PS/2-25 Model 8525001
Film thickness range: 0-60,000 Angstroms
Accuracy: ±3 Angstroms
Repeatability: ±3 Angstrom
Refractive index: ± .005
Power: 115V, 100V, 220V, 230V, 240V.
GAERTNER L106C ist ein hochmodernes, berührungsloses Ellipsometer zur Messung der komplexen optischen Eigenschaften von dünnen Filmen und Oberflächen. Dieses Gerät ist in der Lage, sowohl die Dicke der Folie als auch ihre optischen Konstanten mit einer Kombination aus außergewöhnlicher Geschwindigkeit, Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu bestimmen. L106C verfügt über ein kompaktes Design und bietet dem Anwender vielfältige Möglichkeiten zur Datenerfassung und Datenanalyse. Mit seinem fortschrittlichen optischen Design ist GAERTNER L106C in der Lage, ein breites Spektrum an Proben wie transparente, halbtransparente, transparent-undurchsichtige und diffuse Oberflächen zu messen. Das Gerät verwendet eine polarisationsmodulierte Laserdiode als Lichtquelle und beinhaltet ein einzigartiges, doppeltes anamorphes Prismendesign, um eine höhere Genauigkeit der Messung zu erreichen. Das Ellipsometer ist in der Lage, präzise Messungen kritischer Filmparameter zu erhalten, einschließlich der Dicke, optischen Konstanten und Brechungsindizes. Das System kann mehrere Einfallswinkel gleichzeitig scannen, so dass der Benutzer schnell die komplexen optischen Eigenschaften seiner Probe analysieren kann. L106C enthält auch ein umfassendes Softwarepaket, das dem Benutzer hilft, seine Messdaten zu speichern und zu analysieren. Die Software kann an die Bedürfnisse des Benutzers angepasst werden, mit Optionen, um verschiedene Kombinationen von Filmparametern zu speichern und Berichte basierend auf den gesammelten Daten zu erstellen. Das Gerät verfügt auch über eine motorisierte Probenstufe für eine bequeme, schnelle und präzise Probenpositionierung. Dadurch kann der Anwender eine Vielzahl von Proben schnell und präzise testen und sicherstellen, dass die Messungen unter konsistenten, wiederholbaren Bedingungen erfolgen. Darüber hinaus ist die Maschine für den Betrieb auch in beleuchteten Umgebungen ohne zusätzliche Lichtquelle ausgelegt. GAERTNER L106C ist ein leistungsstarkes, vielseitiges Werkzeug für präzise und zuverlässige Messungen an dünnen Schichten und optischen Oberflächen. Die Kombination aus fortschrittlichem Design und benutzerfreundlicher Software sorgt für genaue, wiederholbare Ergebnisse, ohne auf Geschwindigkeit oder Kosten zu verzichten. Dieses Gerät ist ideal für eine Vielzahl von Anwendungen wie Halbleiter, Optoelektronik und Display-Technologien.
Es liegen noch keine Bewertungen vor