Gebraucht GAERTNER L115 A #938 zu verkaufen

GAERTNER L115 A ist ein automatisiertes spektroskopisches Mehrwinkelellipsometer, das die optischen Materialeigenschaften unterschiedlichster Materialien wiederholbar messen kann. Das Gerät ermöglicht eine leistungsstarke, schnelle und hochgenaue Charakterisierung von Dünnschichtschichten bis zu 2 Mikrometer Dicke, von nichtmagnetischen Halbleitern über transparente Materialien, dielektrische und organische Schichten, magnetische Materialien und andere metallische Dünnschichtstrukturen. Es hat die Fähigkeit, optische Eigenschaften verschiedener Materialien mit bis zu vier spektroskopischen Winkeln gleichzeitig schnell zu messen, so dass Benutzer Zugang zu mehr Informationen haben und die Oberflächenstruktur ihrer Probe besser verstehen können. L115 A verwendet automatisierte Probenplatzierung, Positionierung und Charakterisierung, wodurch der Prozess schneller, einfacher und wiederholbar wird. Das Ellipsometer hat eine Kombination aus automatischer Wellenlängenauswahl und immer genauen Laserabtastwinkeln, was zu beispielloser Genauigkeit und Wiederholbarkeit führt. Darüber hinaus verfügt es über ein geschlossenes Homodynerkennungssystem, das eine weitere Genauigkeit sowie eine schnelle Datenerfassung und -interpretation gewährleistet. Das Analysedatenerfassungs-Softwarepaket wurde speziell entwickelt, um Benutzern die schnelle Datenerfassung zu ermöglichen. Es ermöglicht auch einen schnellen und einfachen Zugriff auf Ergebnisse, um eine integrierte Auswertung der Ellipsometrieergebnisse mit anderen Charakterisierungstechniken innerhalb der Messeinheit zu ermöglichen. Diese Software ist leicht aufrüstbar und ermöglicht es Benutzern, zusätzliche Funktionen einzubeziehen, um das Wissen über die Oberflächenstrukturen ihrer Probe zu erhöhen. Neben maßgeschneiderten messtechnischen Fähigkeiten umfasst GAERTNER L115 A auch weitere Merkmale wie eine motorisierte x-y-z-Positionierstufe, einen Probenwechsler, ein automatisch ausgerichtetes Mikroskop, eine Probennavigationsautomatik, einen Atmosphärendruckflächendetektor und einen Verschmutzungsmonitor. Das breite Einsatzzubehör der L115 A, von der automatischen Probenplatzierung bis zur benutzerfreundlichen Datenerfassungssoftware, macht das Ellipsometer zu einem idealen Werkzeug für die Dünnschichtcharakterisierung und die Analyse von Materialeigenschaften in anspruchsvollen Umgebungen.