Gebraucht GAERTNER L115 #131671 zu verkaufen

GAERTNER L115 ist ein spezialisiertes optisches Instrument zur Messung der optischen Eigenschaften von dünnen Schichten und Nanostrukturen. Es wird typischerweise in den Bereichen Halbleiterherstellung, Materialwissenschaft, Nanostrukturen und optische Beschichtungen eingesetzt. Dieses Ellipsometer nutzt polarisiertes Licht, um die optischen Eigenschaften einer Probe zu bestimmen. Das Instrument verfügt über eine modulare, flexibel automatisierte und einfach zu bedienende Plattform. Es ist mit einem faseroptischen 45 ° -Tiltingellipsometer mit einem weiten Winkelbereich von 30-160 ° ausgestattet, um die optischen Eigenschaften der Probe zu messen. Zusammen mit dem Ellipsometer ist das System auch mit einem automatisierten Probenmanipulationssystem ausgestattet, das Mobilität bietet und einen automatischen Austausch von Proben aus verschiedenen Behältern ermöglicht. Weitere technologische Komponenten des Systems sind ein leistungsstarkes motorisiertes Mikroskopobjektiv für Probenuntersuchungen und Pumpsysteme für die Trocken- und Nassreinigung. Das Instrument ist in der Lage, eine breite Palette von optischen Eigenschaften zu messen, einschließlich Doppelbrechung, optische Anisotropie, Dicke, Brechungsindex und Absorptionskoeffizient der Probe. Die Fähigkeit des Ellipsometers, diese Eigenschaften zu messen, ermöglicht eine umfassende Charakterisierung von dünnen Schichten, Schichten und Nanostrukturen. Mit einer fortschrittlichen Softwareplattform bietet das Instrument eine Automatisierung des gesamten Messablaufs. So können Anwender ihre Messungen schnell und einfach durchführen. Darüber hinaus stellt die Software eine Datenbank mit Messproben zur Verfügung, die Datenverwaltung und -analyse ermöglicht. Die Software verfügt auch über eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) und kann Daten in verschiedenen Formaten exportieren. L115 ist das perfekte Werkzeug für eine Vielzahl von wissenschaftlichen Anwendungen. Die automatisierte Plattform und die vielseitige Software ermöglichen es Forschern, die optischen Eigenschaften von dünnen Filmen, Schichten und Nanostrukturen genau und schnell zu messen. Dank seiner Benutzerfreundlichkeit, Flexibilität und umfassenden Datenanalysefähigkeiten ist es ein ideales Instrument für zahlreiche Forschungsbereiche.