Gebraucht GAERTNER L115 #9144443 zu verkaufen

GAERTNER L115 ist ein forschungsorientiertes optisches Ellipsometer, das speziell für die moderne Materialforschung entwickelt wurde. Es misst die Veränderung des Polarisationszustandes des Lichts, während das Licht von Oberflächen reflektiert, und wird verwendet, um Informationen über die optischen und Oberflächeneigenschaften von Dünnschichtmaterialien zu bestimmen. L115 verwendet einen optischen Kopf, der aus zwei polarisationsanalysierenden Filtern und einer computergesteuerten „Polarisator-Analysator“ -Baugruppe besteht. Damit ist GAERTNER L115 in der Lage, Änderungen des Polarisationszustandes des Lichts in Wechselwirkung mit einer Probe genau zu messen. Auf diese Weise kann das Ellipsometer die reflektierenden und durchlässigen Eigenschaften von Materialien unter Winkeln von 8-85 ° messen. Das System ist auch in der Lage, Proben in verschiedenen Umgebungen zu messen, einschließlich Umgebungsluft, Vakuum und Gas. L115 verfügt über ein automatisiertes System, das mehrere Proben schnell nacheinander aufnehmen kann. Das System kann Proben so dünn wie 0.8nm oder so dick wie 8mm messen. Darüber hinaus ist das Gerät mit einem rückdünnen Probenhalter ausgestattet, mit dem Proben während der Messung flach gehalten werden können. GAERTNER L115 nutzt eine Vielzahl von Softwarepaketen für die Datenanalyse, darunter DataFinder, EXcalibrator und XSpectra. DataFinder ist in der Lage, Echtzeit- und historische Daten von L115 zu verarbeiten und anzuzeigen, während EXcalibrator bei der Probenvorbereitung hilft und Funktionen zur Messung von Reflexion und Durchlässigkeit bereitstellt. XSpectra ist ein voll ausgestattetes Softwarepaket, mit dem Benutzer komplexe Materialfilme modellieren und optische Diagnosen durchführen können. GAERTNER L115 ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Ellipsometer, das für Qualität, Genauigkeit und Wiederholbarkeit entwickelt wurde. Es bietet präzise und zuverlässige Messungen für ein breites Spektrum an Materialien und ist eine ideale Wahl für Forscher aus den Bereichen Oberflächenkunde, optische Übergangsmetalle, Halbleiter, Optik und Dünnschichtmaterialanalyse.