Gebraucht GAERTNER L115 #9176770 zu verkaufen

GAERTNER L115 ist ein fortschrittliches Ellipsometer von GAE International, einem der weltweit führenden Hersteller von Ellipsometern für eine Vielzahl von Anwendungen. L115 bietet umfassende Messungen der optischen Eigenschaften von dünnen Filmen in sichtbaren und nahinfraroten Wellenlängen. Dieser modernste ellipsometer wird mit einem großen Beispielhalter ausgestattet, der bis zu vier unabhängige Beispielbauteile halten kann und eine Vielfalt von Maßweisen einschließlich der hohen Genauigkeit einzelne Wellenlänge, Doppelwellenlänge und Mehrwellenlänge Maße von Rapid-Scan Ellipsometry (RSE) bietet. Es ist auch in der Lage, einzelne und mehrere Einfallswinkel-Ellipsometriedaten mit mehreren Wellenlängen zu erfassen, die typischerweise zur Charakterisierung von Filmdicke und optischen Konstanten verwendet werden. Das fortschrittliche optische Design des Systems ermöglicht eine genaue Charakterisierung sowohl linearer als auch nichtlinearer Filme wie absorbierende oder nichtabsorbierende Filme. Die integrierte Softwareplattform bietet Anwendern eine Vielzahl von Analysewerkzeugen wie Filmdickenmessungen, optische Konstantschätzung, optische Charakterisierung nichtlinearer Filme und spektrale Reflexionsanalysen, ohne dass eine andere Software unterstützt werden muss. GAERTNER L115 wurde entwickelt, um genaue und wiederholbare Ellipsometriedaten mit minimalen Störungen des Bedieners bereitzustellen. Es verfügt über wiederholte Wellenlängenabtastung zur Messung der Filmdicke, rotationssymmetrische Strukturen und dünne Filme mit niedrigen optischen Konstanten. Es enthält auch ein integriertes 4D-Kalorimetriegerät zur Messung der physikalischen Dicke und der gesamten optischen Dicke von Pixel-Dünnschichtproben. Integrierte Automatisierungstools wie die Messplanung und die Scanplanung können die mit der Erfassung von Ellipsometriedaten verbundene Zeit drastisch reduzieren und die Instrumenteneffizienz und den Durchsatz deutlich erhöhen. Dank der verbesserten Datensicherheitsfunktionen, der verschlüsselten Abstimmung und des reservierten Speichers können selbst die sensibelsten Daten problemlos verwendet werden. L115 können eine Reihe von Probentypen sowohl linearer als auch nichtlinearer Dünnschichtproben problemlos handhaben, was es zu einer perfekten Wahl für akademische Labore, Forschungseinrichtungen, Industrie- und Produktionsanwendungen macht. Seine vergrößerte Probengröße und mehrere Probenhalter machen Messungen schneller als je zuvor, während sein optimiertes optisches Design die Messzeit minimiert und genauere und zuverlässigere Ergebnisse ermöglicht. GAERTNER L115 ist mit modernster Technologie gebaut und ermöglicht eine umfassende Charakterisierung eines breiten Spektrums an optischen und Oberflächeneigenschaften. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen, dem intuitiven Softwaresystem und der neuesten optischen Technologie ist dieses Ellipsometer zu einem unverzichtbaren Werkzeug für viele Forschungs- und Industrieanwendungen geworden.