Gebraucht GAERTNER L115B #9272576 zu verkaufen

GAERTNER L115B
Hersteller
GAERTNER
Modell
L115B
ID: 9272576
Ellipsometer No shroud / Dark box.
GAERTNER L115B Ellipsometer ist ein fortschrittliches optisches Messsystem für genaue Charakterisierungen von dünnen Schichten und optischen Materialien. Ellipsometer werden verwendet, um Eigenschaften wie Dicke, Brechungsindex, Absorption und Oberflächen- und Grenzflächenrauhigkeit zu messen. L115B ist ein spektroskopisches Ellipsometer, das eine unpolarisierte Lichtquelle, einen Monochromator und 2 Blickfelddetektoren verwendet. Die beiden von der Lichtquelle und den Detektoren erzeugten vertikalen und horizontalen Winkel messen die Elliptizität und Phasenverschiebung des reflektierten Lichts und liefern eine Fülle von Informationen über die optischen Eigenschaften einer Probe. Das Gerät unterstützt mehrere optionale Zubehörteile, wie eine Vielzahl von Probenhaltern, eine automatisierte Probenhochtemperaturstufe, einen computergesteuerten motorisierten Fokus und eine automatische Bogenlampe. GAERTNER L115B ist in der Lage, optische Eigenschaften über einen weiten Winkelbereich von 25 ° bis 85 ° zu messen. Dies ermöglicht eine genaue Charakterisierung sehr dünner Folien sowie komplexerer Materialien, einschließlich Schicht- und Mehrschichtfolien. Es bietet auch eine hohe Auflösung und einen breiten Dynamikbereich, der eine präzise Charakterisierung der optischen Eigenschaften ermöglicht. Die Software, die L115B ausführt, bietet eine breite Palette von Analysen und Berichtsfunktionen. GAERTNER L115B ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Erfassung einer Vielzahl von Film- und optischen Materialinformationen sowie zur automatisierten Filmcharakterisierung. Es ist eine ideale Wahl für die Bewertung von Geräteproduktionserträgen, Fehlerbehebung Probleme, oder Durchführung von eingehenden Studien von Materialien. Das Gerät ist sehr zuverlässig und einfach zu bedienen, mit klar beschrifteten Tasten und Parametern sowie einem On-Board-Video-Display. Insgesamt ist L115B Ellipsometer ein genaues optisches Messsystem, das detaillierte Informationen über dünne Filme und andere optische Materialien bereitstellt. Seine breite Palette von Winkeln, hohe Auflösung und anpassbare Software machen es zu einem idealen Werkzeug für Anwendungen wie Dünnschichtcharakterisierung und automatisierte Filmbewertung.
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