Gebraucht GAERTNER L115C-8 #293663061 zu verkaufen

GAERTNER L115C-8
Hersteller
GAERTNER
Modell
L115C-8
ID: 293663061
Ellipsometer.
GAERTNER L115C-8 ist ein Ellipsometer, ein Präzisionsinstrument zur Analyse von Dünnschichtoberflächen. Dieses spezielle Ellipsometermodell wurde von der GAERTNER Scientific Corporation hergestellt, die sich auf wissenschaftliche Instrumente für Forschung und Entwicklung spezialisiert hat. Es verwendet mathematische Analysen, um optische Parameter auf Dünnschichtoberflächen zu bestimmen. Dazu gehören Parameter wie Brechungsindizes, Filmdicke, optische Konstanten und Oberflächenrauhigkeit. L115C-8 ist ein voll integriertes, flexibles und leistungsstarkes Benchtop-Instrument. Es besteht aus einem geschlossenen integrierten System mit optischen Komponenten, einem Controller und einer Softwareschnittstelle. Das System umfasst einen optischen Kopf mit einem variablen Polarisator, eine einfallende Lichtquelle und eine Probenhalterung. Es enthält auch eine Stromversorgung und eine Detektoreinheit mit variablem Winkel. Die erweiterte Steuerung umfasst vier motorisierte Achsen, von denen zwei zur Probendrehung verwendet werden. Die Softwareschnittstelle dient der Steuerung der Instrumente und der Ergebnisanalyse. GAERTNER L115C-8 ist in der Lage, eine breite Palette von Filmen zu messen, von ultradünn bis hochreflektierend. Es verfügt über einen breiten Dynamikbereich und eine präzisere Kalibrierung und bietet eine hervorragende optische Leistung. Seine Serie von Messungen mit variablem Winkel ermöglicht sowohl polare als auch unpolare Proben, die Möglichkeit, mehrere Messungen gleichzeitig durchzuführen und schnelle und genaue Messungen. Ein weiteres Merkmal dieses Instruments ist die Verwendung von Differenzsummen- und Differenzdifferenzmessungen. Dadurch kann der Anwender qualitative und quantitative Analysen der optischen Eigenschaften der Oberfläche vornehmen. L115C-8 Ellipsometer ist ein äußerst zuverlässiges und präzises Instrument, das genaue und wiederholbare Ergebnisse liefert. Es wird umfangreich in der Halbleiter- und optischen Industrie sowie in Forschungslabors eingesetzt, um Dünnschichtoberflächen von Materialien zu charakterisieren. Seine Effizienz und Flexibilität machen es zu einem nützlichen und wertvollen Werkzeug für eine Vielzahl von Anwendungen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor