Gebraucht GAERTNER L115C-8 #9400516 zu verkaufen

GAERTNER L115C-8 Ellipsometer ist ein hochentwickeltes Werkzeug für präzise und nicht-invasive Oberflächenmessungen. Es ist ein spektroskopisches Werkzeug, das die Polarisationsänderung eines monochromatischen Lichts nach der Reflektion von der Oberfläche einer Probe misst. Diese Änderung der Polarisation oder Elliptizität ist eine zuverlässige Möglichkeit, sehr kleine Änderungen in der Dicke und Brechungsindex von Materialien zu messen. L115C-8 Ellipsometer hat ein einzigartiges Design mit einer lufttragenden Probenstufe mit großem Durchmesser, so dass der Benutzer die Probe ohne manuellen Eingriff um 360 ° drehen kann. Es ist auch mit einer automatischen XY-Übersetzungsstufe ausgestattet, die die Messung mehrerer Proben ohne Neupositionierung ermöglicht. Diese Translationsstufe wurde auch entwickelt, um große Probensubstrate bis zu einer quadratischen Größe von 200mm zu unterstützen. GAERTNER L115C-8 Ellipsometer hat einen hohen optischen Durchsatz, der es ermöglicht, Proben mit maximalem Kontrast und Schärfe zu messen. Es ist auch in der Lage, einen weiten Wellenlängenbereich vom sichtbaren bis zum nahen Infrarot zu messen. Darüber hinaus wurde das integrierte Photonensensor-Array entwickelt, um hochgenaue Daten mit verbessertem Kontrast und Signal-Rausch-Verhältnis zu liefern. Hinsichtlich der Messgenauigkeit wurde L115C-8 entwickelt, um die Messung von Proben mit Nanometergenauigkeit zu erleichtern. Es kommt auch mit einer Vielzahl von Software-Paketen, wie Querschnitt-Imaging-Software, die verwendet werden können, um erfasste Daten zu analysieren und zu visualisieren. GAERTNER L115C-8 Ellipsometer kann in einer Vielzahl von Forschung, Entwicklung und kommerziellen Anwendungen eingesetzt werden, wie die Analyse von ultradünnen Schichten, Nanostrukturen, fortschrittlichen Materialien und deren Strukturen, Photovoltaikzellen und Halbleiterbauelementen. Es kann auch in hochentwickelten Anwendungen wie der optischen Messtechnik und der Zuverlässigkeitsprüfung auf Waferebene verwendet werden. Außerdem macht die Fähigkeit, die Dicke und den Brechungsindex von kleinen Proben mit der Nanometer-Niveaugenauigkeit zu messen, L115C-8 besonders passend für die Charakterisierung von optischen Überzügen und anderen optisch empfindlichen Materialien. GAERTNER L115C-8 Ellipsometer ist ein vielseitiges und präzises Werkzeug für den Einsatz in der Oberflächenmessung. Die große Probenstufe, das integrierte Photonensensor-Array und die Reihe von Softwarepaketen ermöglichen es, Proben im Nanometermaßstab mit hoher Genauigkeit und Kontrast genau zu messen. Seine Vielzahl von Anwendungen in Forschung, Entwicklung und Produkttests machen es zu einem nützlichen Werkzeug für eine Reihe von Branchen.