Gebraucht GAERTNER L115C #9196917 zu verkaufen

GAERTNER L115C ist ein modernes optisches Ellipsometer zur Messung einer Vielzahl optischer Eigenschaften, einschließlich Dicke, Brechungsindex und Filmspannung dünner Filme. Es ist mit einer Monochromator-Lichtquelle, einer umfangreichen Palette von Detektoren und Polarisatoren und einer präzisen optischen Halterung mit zwei manuellen Achsen ausgestattet. In Kombination mit seiner intuitiven benutzerfreundlichen Bedienung eignet sich GAERTNER L115 C ideal für die Charakterisierung von dünnen Schichten und anderen Halbleitermaterialien. Der Monochromator bietet einen breiten Spektralbereich von 190nm bis 1600nm und ermöglicht die Messung von Proben mit im gesamten Spektrum variierenden Eigenschaften. Die hohe Auflösung des Systems sorgt für genaue Messungen, auch bei sehr niedrigen Winkeln und Winkeln größer als 70 Grad. Die mit dem Monochromator gekoppelten Detektoren und Polarisatoren ermöglichen Messungen über einen weiten Bereich von Winkeln und Polarisationen. Diese Flexibilität trägt dazu bei, die Messzeit zu reduzieren und die Genauigkeit bei allen Messungen zu gewährleisten. Die präzisen optischen Halterungen bieten zwei manuelle Achsen, mit denen die Instrumente für unterschiedliche Probenwinkel und Einfallswinkel konfiguriert werden können. Die Winkel können auch fliegend eingestellt werden, um bei Bedarf Daten über einen weiten Bereich von Winkeln zu erfassen. Die hohe Stabilität der Halterung sorgt für genaue Messungen und reduziert jede Drift, die sonst in einem manuellen System zu finden wäre. L 115 C bietet auch eine Vielzahl von Optionen für Datenanalyse und Reporting. Es ist in der Lage, die ellipsometrischen Parameter einer Probe zu berechnen und anzuzeigen sowie Informationen über Dicke, Brechungsindex und Filmspannung bereitzustellen. Es enthält auch Software für erweiterte Analysen wie Anpassungsparameter. GAERTNER L 115 C ist ein fortschrittliches Ellipsometer für Labor- und Produktionsstudien. Die intuitive benutzerfreundliche Bedienung, das breite Spektrum an Datenerfassungsfunktionen sowie die benutzerfreundliche Datenanalyse und Berichterstattung machen es zu einem der fortschrittlichsten Dünnschichtcharakterisierungsinstrumente. Mit seiner Fähigkeit, schnell, einfach und genau eine Vielzahl von optischen Eigenschaften zu messen, ist L115 C ein Muss für jedes Materialforschungslabor.