Gebraucht GAERTNER L115S #9276525 zu verkaufen

GAERTNER L115S Automatic Ellipsometer misst die Eigenschaften von dünnen Filmen und Substraten über einen weiten Wellenlängenbereich genau. Es ist ein kompaktes, leichtes und einfach zu bedienendes Instrument, das genaue winkelaufgelöste Messungen sowohl für die Reflexion als auch für die Übertragung über den nahen Infrarotbereich ermöglicht. Es verfügt über ein hochmodernes Detektionssystem zur präzisen Datenerfassung, eine motorisierte Probenstufe, einen integrierten Polarisator und eine fortschrittliche Software, die die Positionierung und Ausrichtung von Proben ermöglicht. Der Detektor für L115S ist ein Siliziumdetektor-Array, das mit physikalischen Kollimatoren gekoppelt ist, die winkelgelöste Messungen mit höchster Genauigkeit ermöglichen. Der Detektorkopf ist so konzipiert, dass er eine hervorragende Leistung über einen weiten Wellenlängenbereich liefert. Die Software ermöglicht es Anwendern, die Wellenlänge einfach genau zu steuern, so dass Messungen über verschiedene Bereiche übernommen werden können, um eine genaue Charakterisierung zu gewährleisten. Die motorisierte Probenstufe sorgt für eine präzise Probenpositionierung für die Analyse. Darüber hinaus ermöglicht die Probenschale eine bequeme Platzierung mehrerer Proben. Die Optik auf GAERTNER L115S ist für Weitspektrum-Winkelauflösungen ausgelegt. Es verfügt über einen oben montierten Polarisator und einen IR-Filter, der das dynamische Verhalten in der Filmstruktur analysiert. Die automatisierte motorisierte Probenstufe ermöglicht es dem Anwender, den Probenwinkel in Bezug auf die Lichtquelle schnell anzupassen und ist somit ideal für die qualitativ hochwertige Dünnschichtcharakterisierung geeignet. L115S bietet eine Reihe fortschrittlicher Softwarefunktionen. Es bietet eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, die es Benutzern ermöglicht, einfach zu navigieren und die aus Proben gesammelten Daten zu analysieren. Darüber hinaus ermöglicht das integrierte Polarisationssystem es Anwendern, lokale Filmeigenschaften durch spektroskopische Ellipsometrie zu messen. Die Software ist in der Lage, mehrere Winkel, Leistung und Phasendaten auf einer Vielzahl von Beispieltypen zu speichern. Es verfügt auch über einen winkel- oder wellenlängenabhängigen Filmdickengenerator zum Untersuchen von Schichtstapeln. Insgesamt ist GAERTNER L115S ein extrem genaues und leistungsstarkes Ellipsometer, das sich für die qualitativ hochwertige Dünnschichtcharakterisierung eignet. Seine ausgeklügelten Detektor-, Optik- und Softwarefunktionen ermöglichen es Benutzern, präzise Daten über Proben mit einem ausgezeichneten Signal-Rausch-Verhältnis zu erfassen. Das Instrument ist ideal für materialwissenschaftliche und optoelektronische Anwendungen.