Gebraucht GAERTNER L116 A #54691 zu verkaufen

GAERTNER L116 A ist ein Ellipsometer zur Messung der Eigenschaften dünner Filme, einschließlich komplexer Brechungsindex, Schichtdicke und optischer Konstanten. Diese Art von Instrument ist für viele Anwendungen von entscheidender Bedeutung, von der Forschung und Entwicklung bis zur Produktionsliniensteuerung. Das Instrument verwendet eine polarisierte Lichtquelle, die in der P- und S-Polarisation variiert werden kann, um Dünnschichteigenschaften zu messen. Das polarisierte Licht wirkt mit dem dünnen Film zusammen, wird dann über ein Linsensystem zurückgewonnen und in die polaren und azimutalen Ebenen in zwei Strahlen aufgeteilt. Das Ellipsometer führt dann eine Analyse der reflektierten Strahlen zweiter Ordnung durch, um Eigenschaften wie komplexe Brechungsindex, Schichtdicke und optische Konstanten zu bestimmen. L116 A ist robust und zuverlässig, äußerst präzise und sehr zuverlässig. Damit ist es die perfekte Wahl für industrielle Anwendungen. Es hat einen großen Spektralbereich von 250 bis 2000 nm mit einer Auflösung von 0,1 nm. Dies ermöglicht die genaue Messung von dünnen Folien mit der großen Präzision des Instruments. Das Instrument hat eine hohe Wiederholgenauigkeit von 1% bei einer wiederholbaren Genauigkeit von 0,5% und einer robusten Präzision von 0,1%. Das Gerät verfügt über ein integriertes Probenahmesystem, das den Einsatz in Produktionslinien ermöglicht. Darüber hinaus sorgt das hohe Signal-Rausch-Verhältnis dafür, dass präzise Messungen schnell und effizient durchgeführt werden. Die intuitive grafische Benutzeroberfläche macht das Instrument einfach zu bedienen, sowohl für den Anfänger als auch für den fachkundigen Anwender. GAERTNER L116 A ist ein leistungsfähiges und zuverlässiges Ellipsometer, das für Dünnschichtproduktion und Forschungsanwendungen entwickelt wurde. Mit seinem breiten Spektralbereich, seiner hohen Präzision und seiner robusten Wiederholbarkeit ist es ein unglaublich genaues Werkzeug für Dünnschichtmessungen. Die anspruchsvolle grafische Benutzeroberfläche macht es einfach zu bedienen, so dass Sie Dünnschichteigenschaften wie komplexen Brechungsindex, Schichtdicke und optische Konstanten schnell und genau messen können.