Gebraucht GAERTNER L116D #9176490 zu verkaufen

GAERTNER L116D ist ein hochmodernes Ellipsometer zur Messung der optischen Eigenschaften von dünnen Schichten, Substraten und anderen Oberflächen. Ein Ellipsometer misst Änderungen im Polarisationszustand des Lichts, nachdem es von einer Probenoberfläche reflektiert wird. L116D kann die Dicke, den Brechungsindex, den Extinktionskoeffizienten und andere Schichteigenschaften dünner Filme messen. GAERTNER L116D verfügt über eine motorisierte Stufe mit 1 µm Schritten, um die Probe zur Charakterisierung exakt zu positionieren. Es verwendet eine einfrequente Laserdiodenquelle bei 633 nm zur Beleuchtung. Es hat auch einen drehbaren doppelbrechenden Kompensator, um das Licht richtig zu polarisieren. Ein Detektor detektiert Veränderungen des reflektierten Lichts und dient zur Messung des Polarisationsgrades in Abhängigkeit vom Winkel. L116D verwendet auch computergesteuerte Polarisatoren, um die Intensität des Lichts zu messen, nachdem es von der Probe und einer Kamera reflektiert wird, um Polarisationszustände direkt von der Bildebene aus zu messen. GAERTNER L116D verwendet berührungslose, zerstörungsfreie bildgebende Verfahren, um dünne Filme und Substrateigenschaften zu messen. Dazu gehören ellipsometrische Messungen, polarimetrische Bildgebung (PI) und reflektometrische Bildgebung (RI). Das Einstrahl-Ellipsometer ist für Schichtmessungen von 200 nm bis 12 µm optimiert. Seine PI und RI Systeme können bis zu Tiefen von 600 nm messen. Alle Messungen werden über den eingebetteten L116D-Computer gesammelt, der eine einfache Analyse und Integration mit anderen Plattformen ermöglicht. GAERTNER L116D kann verwendet werden, um eine Vielzahl von optisch dünnen Filmen und Substraten zu messen, einschließlich Mehrschichtfolien, Metallfilmen, dielektrischen Filmen und Halbleitern. Es ist eine zuverlässige Ausrüstung mit ausgezeichneter Empfindlichkeit und Wiederholbarkeit und kann sowohl für Forschung als auch für Produktionsanwendungen verwendet werden. Das System ist auch in der Lage, komplexe Strukturen zu messen, die mehrere Strahlen mit unterschiedlichen Einfallswinkeln benötigen, um Eigenschaften wie Doppelbrechung und Verzögerung zu ermitteln. Insgesamt ist L116D eine komplette, automatisierte Ellipsometereinheit, die in der Lage ist, optische Eigenschaften von dünnen Filmen und anderen Oberflächen schnell und genau zu messen. Es ist eine zuverlässige und empfindliche Maschine, die für viele verschiedene Anwendungen geeignet ist.