Gebraucht GAERTNER L117-C #9004407 zu verkaufen

GAERTNER L117-C Ellipsometer ist ein Gerät zur Messung der optischen Eigenschaften dünner Filme auf Oberflächen. Das Ellipsometer verwendet zwei polarisierte Lichtquellen und einen Lichtdetektor, um den Polarisationszustand des von der untersuchten Oberfläche reflektierten Lichts zu messen. Die aus dem reflektierten Licht gesammelten Daten können dann zur Berechnung der Dicke, der optischen Konstanten und des Abscheidungswachstums des Dünnschichtmaterials verwendet werden. L117-C Ellipsometer verwendet zwei intern stabilisierte He-Ne-Laserquellen. Als Referenz dient der erste Laser, der senkrecht zu dem die Probe beleuchtenden Lichtstrahl positioniert ist. Der zweite Laser dient zur Messung der Größe und des Polarisationszustandes des elliptisch polarisierten reflektierten Lichts. Der Lichtdetektor besteht aus zwei Quadrantendetektoren, die den Betrag und das Verhältnis des Polarisationszustandes messen. Anhand der Daten wird dann die resultierende Polarisationsänderung ermittelt, die durch die Eigenschaften des Dünnfilms beeinflusst wird. Diese Daten können dann zur Berechnung der optischen Eigenschaften des Dünnfilms wie Dicke, Brechungsindex und Extinktionskoeffizient verwendet werden. GAERTNER L117-C Ellipsometer ist ein zuverlässiges, wiederholbares und einfach zu bedienendes System zur Dünnschichtanalyse. Es ist eine benutzerfreundliche Einheit, die über ein interaktives grafisches Fenster gesteuert werden kann und für Forschungs- und Entwicklungsanwendungen oder zur routinemäßigen Qualitätskontrolle geeignet ist. Es verfügt über eine integrierte Computereinheit, einen LCD-Touchscreen für die Dateneingabe und eine vollautomatische Probenhandhabungseinheit für bequeme Messungen. Zusammenfassend ist L117-C Ellipsometer eine zuverlässige und einfach zu bedienende Maschine zur Messung der optischen Eigenschaften dünner Filme. Es verwendet zwei Laser und einen Lichtdetektor, um den Polarisationszustand des reflektierten Lichts genau zu messen, wodurch Filmdicke, Brechungsindex und Extinktionskoeffizient berechnet werden können. Es ist ein benutzerfreundliches Werkzeug und eignet sich hervorragend für Forschung, Entwicklung und routinemäßige Qualitätskontrolle.