Gebraucht GAERTNER L117 C #9011501 zu verkaufen

GAERTNER L117 C ist ein Ellipsometer, das die zerstörungsfreie und präzise Messung der Oberflächeneigenschaften einschließlich Filmdicke, Brechungsindex und optischer Anisotropie von Proben ermöglicht. Das Ellipsometer ist mit einem variablen Einfallswinkel (AOI) von 0 ° bis 85 ° ausgestattet, der Messungen unter verschiedenen Winkeln ermöglicht. L117 C verwendet eine Variante des Brewster 's Angle, am häufigsten bekannt als die Monochromatic Variable Angle Ellipsometry (MVAE) -Technik, die den Polarisationszustand von Licht, das von Proben reflektiert wird, genau misst und eine Tiefenprofilierung von bis zu 5 Mikrometern ermöglicht. GAERTNER L117 C verwendet einen Helium Neon (HeNe) Laser mit einer Wellenlänge von 632,8 Nanometern, der bei der voreingestellten AOI fokussiert und auf die Probe einfällt. Das polarisierte Licht wird dann mit verschiedenen Komponenten, einschließlich Amplitude und Phase, reflektiert und bestimmt den entsprechenden Polarisationszustand des reflektierten Lichts. Dieser Polarisationszustand wird mit der Präzisionsoptik und PC-basierten Software von L117 C gemessen und analysiert und löst Probeneigenschaften auf Auflösungen im Nanometerbereich auf. Variationen in Probenmaterialien können durch GAERTNER L117 C's Fähigkeit, Veränderungen in Brechungsindex und optischer Anisotropie zu erkennen, nützlich für die Bewertung der flüssigen und festen Grenzflächeneigenschaften. L117 C kann auch effektiv die Dicke sehr dünner Filme messen und Unterschiede in der Oberflächenorientierung von Schichtmaterialien mit einer Empfindlichkeit von 0,2 nm quantifizieren. GAERTNER L117 C ist mit einer Probenhalterplattform integriert, mit der Proben einfach über die x- und y-Achsen-Labortische montiert und bewegt werden können. Der Halter kann Proben bis zu 200x100mm mit einer maximalen Probendicke von 12mm unterstützen. Der Probenhalter ist auch mit Schnellspannmechanismen ausgestattet, die ein schnelles Be- und Entladen von Proben ermöglichen. L117 C ist ein zerstörungsfreies, hochempfindliches Ellipsometer, das eine genaue Analyse verschiedener Probeneigenschaften ermöglicht. Seine überlegene Umfangsoptik mit einer breiten Palette von AOI-Messungen, kombiniert mit seiner intuitiven PC-basierten Software, macht es zu einem idealen Werkzeug für die Auswertung organischer und anorganischer dünner Filme, flüssiger/fester Grenzflächen und anderer Nanostrukturen.