Gebraucht HORIBA / JOBIN YVON 23300014W #293644233 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
HORIBA/JOBIN YVON 23300014W Ellipsometer ist ein leistungsstarkes und präzises Präzisionsinstrument zur Messung der optischen Eigenschaften von Dünnschichtproben. HORIBA 23300014W Ellipsometer verwendet eine Ellipsometrie-Technik, um den Polarisationszustand und die Veränderungen des von der Oberfläche einer Probe reflektierten Lichts zu messen, wodurch die optischen Konstanten wie Brechungsindizes und Reflexionsvermögen der Probe analysiert werden können. Das Ellipsometer besteht aus zwei primären Elementen. Das erste ist das einfallende Messgerät, das Licht erzeugt, das dann mit einem polarisierenden Strahlteiler polarisiert wird und dann auf die Probe einfällt. Das zweite Element ist der Detektormesser, der die Veränderung der Polarisation des reflektierten Lichts misst. Der Detektor ist ferner in einen Analysator unterteilt, der die Richtung der Schwingungsebene erfasst und eine CCD-Kamera, die die Änderung der Intensität des von der Probe kommenden reflektierten Lichts misst. Gemäß den Gesetzen der Wellenoptik sind die beiden linear polarisierten Strahlen, der einfallende und der reflektierte, in einer Ebene senkrecht zur Probenoberfläche angeordnet. Der Winkel zwischen dem reflektierten Strahl und dem einfallenden Strahl wird als ellipsometrischer Winkel bezeichnet. Die polarisierte Ellipsometrietechnik dient dann zur Messung des relativen Verhaltens der beiden Strahlen, sowohl der Richtung als auch der Größe bei unterschiedlichen Einfallswinkeln für unterschiedliche Lichtpolarisationen. Das Instrument verfügt über eine Wellenlänge von 635 nm und ein volles Sichtfeld von 3 mm, mit einer Genauigkeit von 0,8 arcsec. Das System umfasst auch eine Software-Schnittstelle, die die Echtzeit-Erfassung und Analyse von Daten ermöglicht, während die Einstellungen des Instruments in Echtzeit gesteuert werden. JOBIN YVON 23300014W Ellipsometer ist ein ideales Instrument für Anwendungen wie Dünnschichtprobenanalyse, Halbleiterscheibencharakterisierung, Farbstoffablagerungen, Oberflächenhaftung, Chemie, Materialwissenschaft und optische Technik. Dieses Instrument wurde entwickelt, um eine hohe Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Zuverlässigkeit in Labor- und industriellen Umgebungseinstellungen zu gewährleisten.
Es liegen noch keine Bewertungen vor