Gebraucht HORIBA / JOBIN YVON UVISEL #149667 zu verkaufen

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL ist ein hochmodernes Vector Spectroscopic Ellipsometer (VSE), das zur Messung dünner Filme und anderer Materialien über einen weiten Spektralbereich von Ultraviolett bis Infrarot entwickelt wurde. Das Gerät ist für zerstörungsfreie Dünnschichtdicken, optische Konstanten, Streu- und Foliengleichförmigkeitsmessungen ausgelegt. Durch die Messung der optischen Eigenschaften eines dünnen Films über einen erweiterten Bereich können Eigenschaften von Grenzflächenschichten und deren Zusammensetzung bestimmt werden. HORIBA UVISEL verwendet einen rotierenden Polarisator und einen Analysator, um die Veränderungen der Lichtintensität bei unterschiedlichen Wellenlängen im Spektralbereich des Geräts zu messen. Die Polarisation zwischen der Lichtquelle und der Probe wird modifiziert, um die optischen Effekte der Oberflächen- und Grenzflächenschichten vor und/oder nach der Rückreflektion zu messen. Dies ist ein Vorteil der vektorspektroskopischen Ellipsometrie, da sie eine Dünnschichtcharakterisierung ohne den Einsatz komplexer Probenvorbereitung ermöglicht. Die Modulation des einfallenden polarisierten Lichts erfolgt so, dass es die gesamte spektrale ellipsometrische Information der Probe messen kann. Die kompletten Spektren können innerhalb des sichtbaren, nahen Ultravioletts und der mittleren Infrarotbereiche mit einer spektralen Auflösung von 0,5 nm und einem Dynamikbereich von bis zu sechs Jahrzehnten gemessen werden. Die Winkelauflösung des Geräts beträgt 0,004 °, was verwendet wird, um den dynamischen Bereich mit einer besseren Genauigkeit zu messen. Zu den Hauptkomponenten von JOBIN YVON UVISEL gehören eine XYZ-Stufe, eine erweiterte Optik, ein Detektorarray, eine Erfassungselektronik und eine Computersteuerung. Die XYZ-Stufe bietet eine dreidimensionale translatorische Steuerung der Probe, während die fortschrittliche Optik Laserinterferometrie für eine verbesserte Punktgrößengenauigkeit und Scangeschwindigkeit verwendet. Das System ist mit einem Detektorarray ausgestattet, um die Intensität der Strahlung für jede Wellenlänge über den Spektralbereich zu messen. Die Daten werden mit einem Hochgeschwindigkeits-Integrationssystem erfasst und die Ergebnisse über einen Computer gesteuert. UVISEL ist das ideale Instrument zur genauen Dünnschichtcharakterisierung, von der einschichtigen Dickenmessung von Beschichtungen auf elektronischen Bauteilen und Metallen bis zur Filmdickenmessung von optischen Substraten und optoelektronischen Bauteilen. Es wird auch für optische Eigenschaften von dünnen Filmen wie Dielektrizitätskonstanten und Absorptionskoeffizienten sowie anisotropen Materialeigenschaften verwendet. Das System ist weit verbreitet in Industrien, in denen fortschrittliche Dünnschichtcharakterisierung ein Muss ist, wie Halbleiter-, Automobil- und medizinische Geräteherstellung. Damit ist HORIBA/JOBIN YVON UVISEL ein vielseitiges Werkzeug für weit verbreitete Forschungsanwendungen.