Gebraucht HORIBA / JOBIN YVON UVISEL #9038920 zu verkaufen

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL ist ein Ellipsometer, das speziell für die Analyse von Dünnschichtbeschichtungen entwickelt wurde. Das Instrument ist in der Lage, die Dicke einer Schicht, die optischen Konstanten einer Folie und Schicht sowie die Brechzahl, Absorptions- und Reflexionsänderungen in der Folienschicht genau zu messen. HORIBA UVISEL Ellipsometer verwendet fortschrittliche Polarisationstechnologie, Lichtquellen-Wellenlängenabdeckung und automatisierte Datenerfassung. Es verwendet einen einfallenden Strahl von monochromatischem Licht entweder von einem Laser oder einer Leuchtdiode (LED). Das Licht wird beim Passieren der Dünnfilmprobe polarisiert und dann auf ein Polarimeter gerichtet, das die Ausgangspolarisation misst. Anhand der erhaltenen Polarisationsdaten werden dann die optischen Eigenschaften der Probe einschließlich der Filmdicke, des Brechungsindex der Probe, des Einfallswinkels und der Absorptionskoeffizienten berechnet. JOBIN YVON UVISEL Ellipsometer ist für einfache Bedienung, mit einer intuitiven Schnittstelle für die Einrichtung des Experiments, die Auswahl einer Wellenlänge und die Erfassung von Daten konzipiert. Das Instrument unterstützt auch mehrere Wellenlängen von 200nm bis 2000nm, mit LED und Laserlichtquellen verfügbar. Das Gerät ist sowohl für Reflexions- als auch für Transmissionsmessungen konzipiert und ermöglicht die Analyse von Dünnschichtbeschichtungen auf Standardglas- und Kunststoffsubstraten. Darüber hinaus ist UVISEL äußerst genau, mit wiederholbaren Ergebnissen für eine Vielzahl von Proben. Während des Messvorgangs überwacht das Gerät die Probe und kompensiert Fehler, die sich auf die Ergebnisse auswirken könnten. Dies wird durch automatische Indexkalibrierung sowie externe Probentemperaturüberwachung und Probendriftkompensation ermöglicht. Schließlich ist HORIBA/JOBIN YVON UVISEL ein außergewöhnlich zuverlässiges Ellipsometer, das immer wieder hervorragende Leistung und Wiederholbarkeit bietet. Es ist das vertrauenswürdige Instrument für Dünnschichtanalysen in der Halbleiter-, Solar-, Bau- und Forschungsindustrie.