Gebraucht J.A. WOOLLAM AccuMap SE UI-1500 #9301004 zu verkaufen

J.A. WOOLLAM AccuMap SE UI-1500 Ellipsometer ist ein hochpräzises spektroskopisches Ellipsometer zur Messung der optischen Eigenschaften von dünnen Filmen und Oberflächen. Dieses vollautomatisierte Instrument kombiniert hochauflösende Ellipsometrie mit einem programmierbaren Probenpositionierer für Proben bis 200 mm Größe. Es erzeugt genaue und zuverlässige Messungen von Filmdicken, optischen Konstanten (Brechungsindex und Absorptionskoeffizient) und Oberflächenrauhigkeit einer breiten Palette von Materialien. Das UI-1500 verfügt über eine hochempfindliche spektroskopische Detektionsausrüstung mit einer Vielzahl von Wellenlängen, die vom ultravioletten (UV) bis zum nahen Infrarotbereich (NIR) erhältlich sind. Das System kann Einfallswinkel (AOI) von 0 ° bis 85 ° für genaue und zuverlässige Ergebnisse messen. Darüber hinaus verfügt das Instrument über eine automatisierte Waferausrichteinheit und eine Probenpositioniermaschine zur einfachen Probenbeladung. Die Präzisionsoptik der UI-1500 liefert ein hervorragendes Signal-Rausch-Verhältnis für außergewöhnliche Genauigkeit. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein hochgenaues Datenerfassungs- und Verarbeitungswerkzeug zur genauen und zeitnahen Datenanalyse. Das Asset kann für den Einsatz in rotierenden und nicht rotierenden Konfigurationen konfiguriert und für eine Vielzahl von Anwendungen wie: Filmabscheidung (Dicke, optische Konstanten usw.) verwendet werden. Oberflächencharakterisierung (Rauheit, optische Konstanten) Haftprüfung Optische Parameter von Nanostrukturen Dünnschichtspannungsanalyse. Das UI-1500 verfügt über eine Vielzahl von Software- und Hardwareoptionen, um sicherzustellen, dass es den Anforderungen verschiedener Anwendungen entspricht. Es unterstützt automatisiertes Wafer-Laden und Wafer-Mapping für schnelle und effiziente Probenanalysen sowie Echtzeit-Datenerfassung und Datenanalyse für schnelle Ergebnisse. Das UI-1500 verfügt zudem über eine einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche zur Konfiguration von Auflösungs- und Belichtungszeiten. Das UI-1500 ist das perfekte Instrument, um dünne Filme und Oberflächen zu charakterisieren. Dieses spektroskopische Ellipsometer ist mit seiner Präzisionsoptik, seinen automatisierten Einrichtungsmöglichkeiten und seinem benutzerfreundlichen Design eine ideale Wahl für Forschungs- und Entwicklungslabore, die nach einer genauen und zuverlässigen Möglichkeit suchen, Filmdicken, optische Konstanten und Oberflächenrauhigkeiten unterschiedlicher Materialien zu messen.