Gebraucht J.A. WOOLLAM H-VASE #9182681 zu verkaufen

J.A. WOOLLAM H-VASE (Horizontal Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer) ist ein Ellipsometer zur quantitativen Charakterisierung von Dünnfilmen und Oberflächen-Fernerkundung. Es ist in der Lage, die optischen Eigenschaften von Probenoberflächen ohne Verwendung von Kontaktsonden oder anderen physikalischen Messungen zu messen. H-VASE bietet eine einzigartige Kombination aus hoher Geschwindigkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit für kommerzielle, industrielle und wissenschaftliche Anwendungen. Die automatisierten Messfunktionen des Geräts sorgen für wiederholbare Filmmessungen mit einem großen Dynamikbereich zur präzisen Dickenbestimmung. Es verfügt über einen konfigurierbaren Messansatz, um die Messabdeckung zu optimieren und die interessierenden Dünnschichteigenschaften zu erfassen. Der vertikale und horizontal variable Einfallswinkel von J.A. WOOLLAM H-VASE sorgt für eine genaue Dünnschichtcharakterisierung. Der variable Einfallswinkel vermeidet die Notwendigkeit, mögliche Auswirkungen aufgrund des Einfallswinkels zu berücksichtigen. Der variable Einfallswinkel ermöglicht die Messung von Materialien mit unterschiedlichen Brechungsindex und Extinktionskoeffizienten. Die Elliptizitäts- und Reflexionsmessungen werden mit einer weißen Lichtquelle durchgeführt, die eine genaue Messung des gesamten Spektrums des einfallenden Lichts ermöglicht. Dies ermöglicht die Charakterisierung von Reflexions-, Absorptions- und Dünnschichtoptikkonstanten einschließlich Wellenlängendispersion. Der Laser erspart sperrige Polarisatoren und Analysatoren. Erweiterte optische Simulationen können auch mit dem spektroskopischen Ellipsometer durchgeführt werden. Die integrierte optische Simulationssoftware ermöglicht es Anwendern, die optischen Eigenschaften von Dünnfilmen genau zu simulieren und zu analysieren. Die Software ermöglicht auch die iterative Optimierung von Prozessparametern, um die besten optischen Parameter für die Dünnschichtcharakterisierung zu erhalten. H-VASE ist entweder mit einem einzigen oder mehreren Messdecks erhältlich. Die Eindeckkonfiguration ermöglicht die Messung von bis zu drei Schichten Folienmaterial in einer einzigen Messung. Mehrere Messdecks können bis zu sieben Schichten von Folienmaterialien aufnehmen. J.A. WOOLLAM H-VASE verfügt auch über einen variablen Winkel Probe Platzierung, ermöglicht Messungen auf einer Vielzahl von Filmen auf einem einzigen Substrat. Die Platzierung von variablen Winkelproben erübrigt die Verwendung einer Steuerprobe zur Berücksichtigung von Einfallswinkeleffekten. Durch die variable Winkelanordnung entfällt auch die Notwendigkeit mehrerer Messschritte für Filme unterschiedlicher Dicke. Zusammenfassend ist H-VASE ein spektroskopisches Ellipsometer, das eine genaue und wiederholbare Dünnschichtcharakterisierung ermöglicht. Das Gerät bietet variable Einfallswinkelmessungen, erweiterte optische Simulationen und die Fähigkeit, bis zu sieben Schichten von Filmmaterialien zu messen. Damit ist J.A. WOOLLAM H-VASE ein ideales Werkzeug für kommerzielle, industrielle und wissenschaftliche Filmcharakterisierungsanwendungen.