Gebraucht J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II #293832127 zu verkaufen

J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II ist ein hochentwickeltes und vielseitiges spektroskopisches Ellipsometer für präzise und präzise Dünnschichtcharakterisierung im infraroten Spektralbereich. Ellipsometrie ist eine leistungsfähige und zerstörungsfreie optische Technik, die verwendet wird, um die optischen Eigenschaften von dünnen Filmen wie Dicke, Brechungsindex und Extinktionskoeffizient mit hoher Empfindlichkeit und Auflösung zu messen. IR-VASE Mark II wurde von J.A. WOOLLAM Co., Inc., einem führenden Hersteller von spektroskopischen Ellipsometern und Dünnschichtmessgeräten, entwickelt. J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II ist mit einer breitbandigen Infrarotlichtquelle ausgestattet, die einen weiten Spektralbereich abdeckt, der sich vom Nahinfrarot (NIR) bis zum mittleren Infrarotbereich (MIR) erstreckt, typischerweise von 1 bis 10 Mikrometer. Diese erweiterte spektrale Abdeckung ermöglicht die genaue Charakterisierung eines breiten Spektrums von Materialien und dünnen Filmen, darunter unter anderem Halbleiterfilme, dielektrische Filme, organische Filme und optische Beschichtungen. Die Fähigkeit, Materialien im Infrarotbereich zu sondieren, ist entscheidend für Anwendungen in Bereichen wie Materialwissenschaft, Halbleitertechnik, Photovoltaik und optischen Beschichtungen. Eines der Hauptmerkmale von IR-VASE Mark II ist seine hohe spektrale Auflösung und Genauigkeit, die eine präzise Messung der komplexen optischen Eigenschaften von dünnen Filmen ermöglicht. Das Instrument nutzt die Prinzipien der Ellipsometrie, wo die Änderung des Polarisationszustandes des Lichts bei Reflexion von einer Probenoberfläche analysiert wird, um Informationen über die optischen Eigenschaften des Materials zu extrahieren. Durch die Messung der ellipsometrischen Parameter (Ψ und Δ) bei mehreren Wellenlängen über das Infrarotspektrum kann J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II die Dicke, den Brechungsindex und den Absorptionskoeffizienten dünner Filme mit hoher Präzision bestimmen. IR-VASE Mark II ist mit einer motorisierten Stufe und einem variablen Einfallswinkel ausgestattet, der Messungen in mehreren Winkeln und Bereichen der Probenoberfläche ermöglicht. Dieses Merkmal eignet sich insbesondere zur Untersuchung anisotroper und mehrschichtiger Dünnschichtstrukturen, bei denen die optischen Eigenschaften mit einfallendem Winkel oder Filmzusammensetzung variieren können. Zusätzlich kann das Instrument Mapping-Messungen über große Bereiche der Probenoberfläche durchführen, um räumlich aufgelöste optische Eigenschaftskarten mit hoher Auflösung zu erzeugen. J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II wird durch fortschrittliche spektroskopische Ellipsometrie-Software gesteuert, die es Anwendern ermöglicht, einfach Experimente einzurichten, Daten zu erfassen und Ergebnisse in Echtzeit zu analysieren. Die Software bietet verschiedene Modellierungsoptionen, um Messdaten an theoretische Modelle anzupassen, wie das Tauc-Lorentz-Dispersionsmodell oder das Cauchy-Modell, um genaue optische Konstanten der dünnen Filme zu extrahieren. Benutzer können auch benutzerdefinierte Modelle erstellen und ellipsometrische Daten simulieren, um die Messbedingungen zu optimieren und komplexe optische Verhaltensweisen zu interpretieren. Insgesamt ist das IR-VASE Mark II Ellipsometer ein modernes Instrument für die infrarotspektroskopische Ellipsometrie, das Hochleistungsfähigkeiten für die Dünnschichtcharakterisierung in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen bietet. Das fortschrittliche Design, die spektrale Abdeckung und die Softwarefunktionen machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure auf dem Gebiet der Dünnschichtoptik und Materialwissenschaft.