Gebraucht J.A. WOOLLAM M-2000 #293585945 zu verkaufen

Das J.A. Woo llam J.A. WOOLLAM M-2000 ist ein Ellipsometer zur Messung von Filmdicken, Brechungs- und Absorptionsindizes einer Materialprobe. Es liefert genaue und robuste Messungen, indem es die Veränderungen im Polarisationszustand von Licht durch Reflexion von der oberen Oberfläche einer Dünnfilmprobe auswertet. Es arbeitet nach dem Prinzip der Ellipsometrie, wobei das Verhältnis des reflektierten Lichts unter verschiedenen Winkeln gemessen wird. Dieses Ellipsometer wurde von J.A. Woo llam entworfen und ist für seine Genauigkeit und zuverlässige Ergebnisse anerkannt. M-2000 besteht aus einer laserbeleuchteten, hochreflektierenden, ebenen Probenstufe und einer Lichtdetektionsstufe, die über einen Strahlteiler verbunden sind. Ein Helium-Neon (He-Ne) Laser mit geringer Kohärenz wird verwendet, um eine kontrollierte monochromatische und inkohärente Lichtquelle bereitzustellen. Diese Lichtquelle ist auf die Probe gerichtet und das Licht wird reflektiert und erzeugt die ellipsometrischen Signale. Die ellipsometrischen Signale werden mit einem Polarisationsmechanismus detektiert und ferner mit einem Prozessor und einer ergonomischen grafischen Benutzeroberfläche interpretiert. J.A. WOOLLAM M-2000 wurde entwickelt, um eine breite Palette von Folien einschließlich einschichtiger Folien sowie mehrschichtiger Folien abzudecken. Der Einfallswinkel des Laserstrahls ist variabel, was eine Vielzahl von Studien wie Echtzeitspektroskopie und Profilabbildung ermöglicht, mit denen Informationen wie Filmdicke, Brechungs- und Absorptionsindizes gewonnen werden können. Darüber hinaus ist M-2000 mit einem Computerhardware- und Softwarepaket ausgestattet, das eine einfache Datenanalyse und Datenabfrage ermöglicht. Die J.A. Woo llam J.A. WOOLLAM M-2000 gilt aufgrund ihres ausgeklügelten Designs und technologischen Fortschritts als effektives Werkzeug sowohl für die Forschung als auch für die Industrie in der Halbleiter- und optischen Beschichtungsindustrie und ermöglicht den Anwendern wertvolle Einblicke in die physikalischen Eigenschaften ihrer Materialproben. Es bietet eine hohe Genauigkeit und Zuverlässigkeit und ist einfach zu bedienen.