Gebraucht J.A. WOOLLAM M-2000 #293664041 zu verkaufen

J.A. WOOLLAM M-2000 Ellipsometer ist ein Gerät, das speziell für die Charakterisierung von Dünnschichtsystemen und die Bestimmung der komplexen optischen Konstanten entwickelt wurde. Mit beispielloser Datengeschwindigkeit und Genauigkeit ist es eines der obersten Werkzeuge für die optische Charakterisierung. M-2000 verwendet eine Klasse von Ellipsometrietechniken, die als variable winkelspektroskopische Ellipsometrie (VASE) bekannt sind. Diese Technik kommt insbesondere bei der Analyse dünner Filme zum Einsatz, da sie die optischen Konstanten über einen großen Winkelbereich innerhalb eines Bruchteils einer Sekunde beim Scannen mehrerer Wellenlängen messen kann. J.A. WOOLLAM M-2000 verwendet auch eine duale Wellenlängen (λ/2) -Technik, um die optische Anisotropie von dünnen Filmen bis zu einer Dicke von subnm zu messen. M-2000 verfügt über eine mechanische Ausrüstung mit fünf Freiheitsgraden, die eine beispiellose Geschwindigkeit und Genauigkeit bei den Messungen ermöglicht. Das Gerät verfügt über eine integrierte Probenstufe, die Probenbewegungen in der Einfallsebene bis zu ± 4 ° überwachen kann. Dies ermöglicht präzise Messungen, ohne dass ein eigenes Probenmontagesystem erforderlich ist. Das beeindruckendste Merkmal von J.A. WOOLLAM M-2000 ist seine Einheit für automatisierte Kartierung und Probenahme. Mit nur wenigen Klicks können Benutzer Karten von bis zu 15 x 15 unterschiedlichen Parametern über einen Bereich von Winkeln und Wellenlängen erstellen. Das bedeutet hochgenaue Kartierung in einem Bruchteil der Zeit. Optisch und hardwaremäßig ist M-2000 mit einem zweikanaligen Spektrometer ausgestattet, das es ermöglicht, linear polarisiertes Licht bei bis zu 12 verschiedenen Wellenlängen (195 nm bis 1675 nm) bei bis zu 4 verschiedenen Winkeln pro Wellenlänge zu detektieren. Diese Maschine ist für maßgeschneiderte Musterhalter optimiert und verfügt über überlegene optische Netzteile, um genaue Ergebnisse zu gewährleisten. J.A. WOOLLAM M-2000 umfasst erweiterte Softwarepakete wie die voll ausgestattete M-View Pro GUI mit umfangreichen Anpassungs- und Berichtsoptionen. Es enthält auch eine Python-Bibliothek für multivariate Analysen sowie MATLAB-Skripte für das Plotten von Ergebnissen. Dies bietet eine unglaubliche Auswahl an Optionen für Datenanalyse und -verfolgung, um die einzigartigen Anforderungen jedes Benutzers zu erfüllen. Insgesamt ist M-2000 Ellipsometer das ultimative Werkzeug zur optischen Charakterisierung dünner Filme. Mit seiner Präzisionsgeschwindigkeit, Genauigkeit und einfach zu bedienenden Software ist es das perfekte Gerät für jede Anwendung.