Gebraucht J.A. WOOLLAM M-2000 #9189354 zu verkaufen

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Hersteller
J.A. WOOLLAM
Modell
M-2000
ID: 9189354
Weinlese: 2005
Ellipsometer EC-400 Controller Focused M-2000 Model: X (500) Wavelengths: 193-1000 nm Multiple incident angles of 45/60/75° (3 mm x 4.5 mm Spot) Incident angle with microspot lens: 60° (25x50 Micron spot size) XENON FLS-350 75W Source Power module: EPM-222 WATEC WAT-902H2 Video camera Fixed angle base with rotating compensator Motorized stage: Tip / Tilt XY Mapping stage: 200 mm x 200 mm PC Operating system: Windows 7 2005 vintage.
J.A. WOOLLAM M-2000 ist ein fortschrittliches optisches Ellipsometer, das sowohl die Dicke als auch die optischen Eigenschaften dünner Filme misst. M-2000 verwendet eine patentierte Drehkompensator-Technologie, um sowohl den Brechungsindex als auch den Extinktionskoeffizienten dünner Filme zu messen. Das Instrument weist eine monochromatische Lichtquelle auf, die durch zwei Paare von gekreuzten linearen Polarisatoren übertragen wird. Beim Durchlaufen der Probe wird der Polarisationszustand verändert und die Differenz der resultierenden Intensität auf die optischen Eigenschaften der Probe bezogen. J.A. WOOLLAM M-2000 ist für eine breite Palette von Anwendungen konzipiert, einschließlich Dünnschichtabscheidung, optische Beschichtung, Halbleiterbauelementherstellung und Oberflächenkunde. M-2000 verwendet ein Low Angle Spectroscopic Ellipsometer (LASE), mit dem dünne Filme von 0-15 nm mit einer Genauigkeit von mehr als 0,1 Grad gemessen werden können. Dieses kombiniert mit seinem einzigartigen Mehrkanal-Detektorsystem bietet höchste Präzision und Genauigkeit für Dünnschichtmessungen. J.A. WOOLLAM M-2000 verfügt auch über eine neuartige interne Probenumgebung zur automatisierten Temperaturregelung. Dies ist ein Vorteil bei der Messung von Materialien mit starken temperaturabhängigen optischen Eigenschaften wie Halbleitern. Das automatisierte Drehkompensationssystem des Geräts ermöglicht eine reibungslose und genaue Messung von dünnen Folien unabhängig von ihrer Orientierung. Die integrierte Softwareschnittstelle von M-2000 ermöglicht es Benutzern, Datenmessungen einfach zu steuern und zu visualisieren. Die Software bietet Echtzeit-Feedback, mit dem Probleme schnell diagnostiziert und Einstellungen angepasst werden können. Diese Software ermöglicht auch erweiterte Datenerfassungsroutinen und die Verwaltung des Experimentprotokolls. J.A. WOOLLAM M-2000 ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Instrument, mit dem Dünnschichteigenschaften mit ausgezeichneter Genauigkeit und Präzision gemessen werden können. Die Kombination aus fortschrittlicher optischer Technologie und automatisierter Datenerfassungssoftware macht es zu einem wertvollen Werkzeug für Forschung und Entwicklung in einer Vielzahl von Branchen.
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