Gebraucht J.A. WOOLLAM M-2000 #9249787 zu verkaufen

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Hersteller
J.A. WOOLLAM
Modell
M-2000
ID: 9249787
Weinlese: 2010
Spectroscopic ellipsometer With EC-400 controller M-2000X Lamp controller, model DET-100 Unit source: FLS-300 75W Xe Arclight source Detection unit: MQD Single Stage: 8-1/2" Automated mapping part Spectral range: 245-1000nm 470 Wavelengths Automated angle base Focusing option Spot size: 500um Includes: (2) Focusing probes Additional stage Computer Monitor Cable Vacuum pump (Small) Does not include NIR 2010 vintage.
J.A. WOOLLAM M-2000 ist ein vielseitiges optisches Messwerkzeug zur Messung der Dicke und optischen Parameter dünner Filme auf einer breiten Palette von Materialien. Es funktioniert, indem es eine Probe mit einem polarisierten Lichtstrahl beleuchtet, die resultierende Reflexion detektiert und das Ergebnis mit einer ausgeklügelten Software analysiert, um die optischen Eigenschaften der Probe zu bestimmen. Durch die Messung der Unterschiede zwischen der Intensität des von der Probe reflektierten Lichts unter verschiedenen Winkeln und Wellenlängen kann M-2000 die Dicke eines Films oder einer Beschichtung bis auf atomare Ebenen genau messen. Neben der Messung der Schichtdicke kann J.A. WOOLLAM M-2000 auch zur Messung des Brechungsindex, der optischen Transmission, der Absorption, des Extinktionskoeffizienten und des Absorptionskoeffizienten der Probe verwendet werden. M-2000 ist ein optisches Multiparameter-Werkzeug, d.h. es kann mehrere Eigenschaften derselben Probe messen, ohne dass eine aufwendige Nachbearbeitung erforderlich ist. Es bietet eine breite Palette von Musterhaltergrößen und kann Proben von 200mm im Durchmesser bis zu 4,6mm im Durchmesser aufnehmen. Darüber hinaus ermöglicht die automatische Kalibrierung eine einfache Einrichtung und gewährleistet die Wiederholbarkeit der Messungen. Ausgestattet mit einer CCD-Kamera bietet J.A. WOOLLAM M-2000 eine hohe spektrale Auflösung und ermöglicht die Charakterisierung von Proben sowohl im nahen Infrarot- als auch im sichtbaren Bereich. Es verfügt auch über Temperatur- und externe Vibrationssteuerungen, die helfen, mögliche Fehler zu minimieren und zuverlässige Ergebnisse zu gewährleisten. M-2000 bietet auch höhere Flexibilität und erweiterte Funktionen, wenn sie von einem Computer direkt oder aus der Ferne gesteuert werden. Insgesamt ist J.A. WOOLLAM M-2000 eine effektive, zuverlässige Lösung zur optischen Charakterisierung und Messung von dünnen Filmen und Materialien. Es verwendet eine ausgeklügelte optische und Software-Technologie, um die optischen Eigenschaften von Proben schnell und einfach genau zu messen und ist somit ein ideales Werkzeug für eine Vielzahl von Branchen.
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