Gebraucht J.A. WOOLLAM M-2000 #9257200 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9257200
Ellipsometer
Fixed angle
Temperature: 1200°C
Materials: GaN, AIN and AIGaN
Doping species for materials:
Si for n type
Mg for p type
Includes:
ESM 300
M-2000X
DET-100
EC-400
EPM-224
EPM-222
DELL OptiPlex 7010
Effusion cells:
(2) Riber AI
E-Science AI
(2) E-Science Ga
(2) E-Science Mg
E-Science Si
(10) Shutters
(11) Power supplies.
J.A. WOOLLAM M-2000 Ellipsometer ist ein Gerät, das polarisiertes Licht verwendet, um Änderungen in der Dicke eines zu analysierenden Probenmaterials zu messen. Die Messung erfolgt, indem zunächst ein Licht einer bestimmten Frequenz auf eine Probenmaterialoberfläche geschickt wird, bevor die Drehung des resultierenden reflektierten Lichts gemessen wird. Die Probe wird auf eine in einer UHV-Kammer eingeschlossene Probenscheibe gelegt, so dass Messungen in einer Vakuumumgebung genau gemessen werden können. Die auf einer rotierenden Plattform montierte Probenscheibe ermöglicht unterschiedliche Einfalls- und Polarisationswinkel für unterschiedliche Messungen. Die Lichtquelle von M-2000 ist ein 147,5 nm ArF * Laser mit einer Strahllänge von 2,0 cm und einer Strahlintensität von 10 nanoWatts/cm2. Es ist mit einem CCD-Detektor ausgestattet, der zur Überwachung der Probenpolarisation und zur Beurteilung der Doppelbrechung des Materials verwendet wird. Sie weist ferner eine Laserlinie und ein Laserinterferometer auf, mit denen die Veränderung der Polarisation des Strahls relativ zur Probe gemessen wird. Das System verfügt außerdem über einen internen Prozessor, der die Messdaten verarbeitet und Echtzeitergebnisse liefert. Es kann auch bis zu 5000 Kurven für Vergleiche speichern. Darüber hinaus ist das System auch in der Lage, langfristige Datenerfassungs- und Datenanalysestrategien zu entwickeln und den Anwendern einen Überblick über die Entwicklung ihres Films im Laufe der Zeit zu geben. Die J.A. Wooellam J.A. WOOLLAM M-2000 ist ein wirksames Werkzeug zur Messung von Änderungen der Dicke von Probenmaterialien, da sie Veränderungen der Polarisation in verschiedenen Einfallswinkeln messen kann. Darüber hinaus ermöglicht der interne Prozessor die Datenanalyse und die Möglichkeit, Kurven zu speichern, was ihn zu einem nützlichen Werkzeug für Forschung und Qualitätskontrolle macht. Darüber hinaus ist es aufgrund seiner Fähigkeit, Doppelbrechung und seine Vakuumumgebung zu messen, ein ideales Werkzeug für spezielle Anwendungen, wie zum Beispiel im Bereich der Optik.
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