Gebraucht J.A. WOOLLAM M-2000UI #9268961 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9268961
Spectroscopic ellipsometer
Includes:
XLS-100 Head
Standard wafer: 250Å, SiO2 on Silicon
EC-400 Controller
HUBER Rotary stage
Dongles.
J.A. WOOLLAM M-2000UI ist ein computergestütztes Ellipsometer zur Messung der optischen Eigenschaften von Materialien. Es ist in der Lage, die optischen Konstanten, Dicke und Brechungsindizes von Dünnschichtmaterialien mit hoher Genauigkeit und Präzision zu messen. M-2000UI verfügt über ein hohes Leistungsspektrum und ist damit ein wertvolles Werkzeug in der Materialforschung und -produktion. J.A. WOOLLAM M-2000UI ist in der Lage, Dicken dünner Filme im Bereich von 0,2 nm bis 3 µm zu messen. Sie wird durch den Zusatz eines Abbildungssystems verstärkt, das eine bessere visuelle Darstellung der Filmeigenschaften ermöglicht. Die Messungen werden an einer Reihe von Materialien unter Verwendung einer Vielzahl von Lichtquellen durchgeführt, einschließlich polarisiertem, unpolarisiertem und monochromatischem Licht. Die Software zum Bedienen von M-2000UI ist benutzerfreundlich konzipiert und kann verwendet werden, um die Messergebnisse schnell und zuverlässig zu generieren. Es ermöglicht es Benutzern auch, Filmeigenschaften durch eine Vielzahl von Methoden auszuwerten, einschließlich Mehrkomponentenanalysen, ellipsometrischen Anpassungen und einer integrierten Anpassungssäule, die konsistente Ergebnisse liefern kann. J.A. WOOLLAM M-2000UI enthält auch eine erweiterte Temperaturregelung, die Temperaturen im Präzisionsbereich von 0,01 ° C überwacht und reguliert. Diese Funktion ist ideal, um konsistente Ergebnisse auf einer Vielzahl von Materialien zu gewährleisten und gleichzeitig einen effizienteren Prozess zu gewährleisten. M-2000UI verfügt auch über ein aktives Vibrationskontrollsystem, das Messungen von schwingungsanfälligen Proben ermöglicht. Mit dieser Funktion bietet J.A. WOOLLAM M-2000UI eine großartige Leistung, wenn es um Messmaterialien geht, die unterwegs sind. M-2000UI ist ein wichtiges Gut für die Materialforschung und -produktion. Mit seinem Leistungsspektrum kann es die optischen Konstanten, Dicke und Brechungsindizes von Dünnschichtmaterialien mit hoher Genauigkeit und Präzision messen. Seine benutzerfreundliche Software und Temperaturkontrolle sorgen für konsistente Ergebnisse, während sein aktives Vibrationskontrollsystem Stabilität während der Messung garantiert.
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