Gebraucht J.A. WOOLLAM M-2000UI #9277548 zu verkaufen

J.A. WOOLLAM M-2000UI ist ein fortschrittliches Ellipsometer, das entwickelt wurde, um die optischen Eigenschaften dünner Schichten genau zu messen. M-2000UI liefert genaue Daten über Brechungsindizes, Schichtdicke, Absorptionskoeffizienten und kristalline Orientierung in verschiedenen Tiefen und Winkeln. Dies hilft, die physikalischen Eigenschaften von Materialien wie Halbleitern, Polymeren, Beschichtungen und dünnen Schichten zu identifizieren. J.A. WOOLLAM M-2000UI besteht aus einer Polarisationsvorrichtung, einem Paar dämpfender Platten, einem Siliziumdetektor und einer optischen Stufe. Die Wellenlänge kann je nach gemessenem Material von 253,6 bis 700 Nanometer variiert werden. Das Licht wird polarisiert und anschließend in zwei ebene polarisierte Komponenten aufgeteilt, die die optischen Eigenschaften der Schichten erfolgreich analysieren. Anschließend werden Daten aufgezeichnet und analysiert, um Informationen über das Probenmaterial zu ermitteln. M-2000UI verfügt außerdem über eine integrierte Einheit mit einem Reflektometer, einem optischen Mikroskop und einer einstellbaren Stromversorgung zur Einstellung des Beleuchtungspegels. Diese integrierte Einheit ermöglicht Benutzern den Zugang zu einer Vielzahl von Messtechniken und liefert detaillierte Informationen über die optischen Eigenschaften verschiedener Proben. J.A. WOOLLAM M-2000UI ist eine zuverlässige, benutzerfreundliche Maschine mit außergewöhnlicher Leistung. Es ist einfach zu bedienen und ermöglicht eine schnelle und genaue Datenverarbeitung. M-2000UI eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, darunter Lichtstreuung und Dünnschichtwachstum, optische Charakterisierung, Halbleiterdiagnostik, mehrschichtige optische Beschichtungen, optoelektronische Geräte, Mikrowellen, mobile Telekommunikation, optische Displays, chemische Sensorcharakterisierung und optische Materialforschung. Zur Verbesserung der Performance von J.A. WOOLLAM M-2000UI können die Daten und Analysen in Echtzeit durchgeführt oder die Ergebnisse im Offline-Modus verarbeitet werden. Die eingebettete Software kann auch remote über eine Weboberfläche aufgerufen werden, sodass Benutzer von jedem Ort aus auf ihre Daten zugreifen und diese verwalten können. Darüber hinaus können die Ergebnisse einfach in Formaten hochgeladen werden, die mit verschiedenen Softwarepaketen kompatibel sind. M-2000UI ist der Höhepunkt der Ellipsometrie-Technologie und kann sich darauf verlassen, eine präzise und genaue Analyse für alle Arten von Proben anzubieten. Dieses Gerät hat die Fähigkeit, die optischen Eigenschaften verschiedener Materialien schnell zu analysieren und zu dokumentieren, was es zu einem unschätzbaren Werkzeug für viele Branchen macht.