Gebraucht J.A. WOOLLAM M-2000X #9231739 zu verkaufen

J.A. WOOLLAM M-2000X ist ein Ellipsometer, das verwendet wird, um optische Eigenschaften in Materialien zu messen. Ellipsometrie ist eine zerstörungsfreie Technik, die verwendet wird, um die Dicke, den Brechungsindex, den Extinktionskoeffizienten und die optische Konstante eines Materials zu bestimmen. Dieses Ellipsometer misst die Polarisationsänderung eines monochromatischen Lichtstrahls beim Abstrahlen einer Materialprobe zur Bestimmung seiner optischen Eigenschaften. M-2000X verfügt über eine branchenführende Kombination aus optischen, mechanischen und elektronischen Komponenten. Das Optikmodul enthält leistungsstarke InGaAs-Spektrometer, die mit einem hochgenauen Wollaston-Prisma ausgestattet sind. Dieses Prisma ist in der Lage, das polarisierte Licht von weiten Quellwinkeln bis zu hohen numerischen Öffnungen zu messen. Das Licht wirkt mit der Probe zusammen und wird dann über ein rechnergesteuertes motorisiertes Positioniersystem auf das Spektrometer geleitet. Die Messungen mit J.A. WOOLLAM M-2000X werden in einer vibrations- und staubfreien Umgebung durchgeführt, die präzise und wiederholbare Ergebnisse gewährleistet. Zu den primären Fähigkeiten von M-2000X gehören Messungen optischer Konstanten an Proben im Bereich vom Ultraviolett bis zum Infrarotbereich sowie Dünnschichtoptische Konstanten, Filmdickenmessungen, Dehnungsgradienten, Schicht-für-Schicht-Dicken und dielektrische Konstantenmessungen. J.A. WOOLLAM M-2000X bietet auch mehrere benutzerfreundliche Funktionen, darunter automatisierten Messdurchsatz, eine intuitive Windows-Schnittstelle, leistungsstarke Datenanalyse und Plotting-Funktionen und Kompatibilität mit einer breiten Palette von Musterhaltern. Darüber hinaus ist das Instrument so konzipiert, dass es sich problemlos in Produktionslinien und Forschungsprozesse integrieren lässt, bei denen Benutzerkontrolle, Flexibilität und Genauigkeit unerlässlich sind. M-2000X ist ein innovatives und zuverlässiges Ellipsometer mit hervorragender Leistung, das auf eine breite Palette von optischen Forschungs- und Messanforderungen anwendbar ist. Die unübertroffene Kombination aus Genauigkeit und Vielseitigkeit macht es zur idealen Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen.