Gebraucht J.A. WOOLLAM VASE #293624629 zu verkaufen

J.A. WOOLLAM VASE wurde von der Woollam Company, einem Branchenführer in der Ellipsometrie, entworfen und hergestellt. Die patentierte VASE ist ein optisches Präzisionswerkzeug zur Messung der Dicke und optischen Konstanten dünner Filme auf einer Vielzahl von Substraten. Mit einem Einfallswinkelbereich von 4 bis 70 Grad und einer Genauigkeit von 0,2 Grad bietet J.A. WOOLLAM VASE eine unübertroffene Genauigkeit in seinen Messungen. Sein einzigartiges Design umfasst eine abnehmbare untere Einheit mit dem Luftlager und der Filmmusterhalterung, die die Messung mehrerer dünner Filme mit nur einem Setup ermöglicht. Der optische Kopf enthält eine speziell entwickelte optische Hülle, um Luftreflexionsfehler zu reduzieren und Änderungen im optischen Weg zwischen einfallendem und gestreutem Licht für eine verbesserte Genauigkeit zu minimieren. Die im Lieferumfang enthaltene Software bietet intuitive Funktionen, die eine vollständige Funktionsanalyse und schnelle Datenerfassung ermöglichen. VASE bietet eine beispiellose Genauigkeit bei Dünnschichtdicke und optischen Eigenschaftsmessungen. Seine fortschrittliche Software ermöglicht eine umfassende Analyse und schnelle Datenerfassung, so dass Forscher schnell Konformitätstests von Dünnschichtproben durchführen können. Das System nutzt einen Niedervakuum-Auftreffwinkel von 4 bis 70 Grad, der mit 0,2-Grad-Genauigkeit einstellbar ist. So können dünne Folien mit hoher Präzision gemessen werden. Verbesserte optische Hüllen reduzieren auch Luftreflexionsfehler und minimieren Abweichungen des optischen Weges, was zu genaueren Ergebnissen führt. Die Einheit wird durch die anspruchsvollen Detektionssysteme in J.A. WOOLLAM VASE weiter unterstützt. Dazu gehören der Peltier Temperaturregler, die Autophobic Flatten Compensation Software und die automatische Modulationskompensation. Mit diesen Systemen können Anwender dünne Filme unterschiedlicher optischer Konstanten und Filme mit Mikrorauheit schnell und genau messen. Dies garantiert genaue und präzise Messungen und eine verbesserte Dünnschichtcharakterisierung, insbesondere in Verbindung mit der fortschrittlichen Software der Maschine. VASE ist ein vielseitiges und fortschrittliches Ellipsometer, das eine beispiellose Genauigkeit bei Dünnschichtmessungen bietet. Besonders vorteilhaft ist es für Forscher und Wissenschaftler aus den Bereichen Materialwissenschaft, Photovoltaik, Elektronik und Halbleitermärkte sowie für den Einsatz in der wellenlängenabhängigen optischen Materialbestimmung. Dieses innovative Werkzeug kann verwendet werden, um die Dicke von dünnen Schichten und die optischen Konstanten einer Vielzahl von Substraten zu messen, mit einer Genauigkeit und Wiederholbarkeit, die einfach konkurrenzlos ist.