Gebraucht NIPPON DENSHOKU Model VSR #293670762 zu verkaufen

NIPPON DENSHOKU Modell VSR ist ein automatisiertes Ellipsometer, das die Veränderung der Polarisation von Licht misst, während es durch dünne Filme geht. Dieses Gerät ist speziell für die Analyse optischer Eigenschaften von Oberflächen in der Halbleiter- und Dünnschichtforschung und -entwicklung sowie für die Produktionssteuerung konzipiert. Modell VSR nutzt die Prinzipien der Ellipsometermessung, die auf einer Kombination von reflektiertem Licht und Polarisation basiert. Dabei wird Licht von einer Oberfläche reflektiert und seine Polarisation basierend darauf analysiert, wie es durch zwei verschiedene optische Filter geht. Hieraus ist das Ellipsometer in der Lage, die 𝛼 und 𝛽 Winkel für von der Oberfläche reflektiertes Licht zu messen, mit denen die Filmdicke, der Brechungsindex und andere optische Eigenschaften der Oberfläche berechnet werden können. NIPPON DENSHOKU Model VSR wird auch Informationen über Autofokus und Ausrichtung messen, die beide für eine hochpräzise Analyse notwendig sind. Es ist mit einer integrierten CCD-Kamera zur Fotoausrichtung, einem optischen Mikroskop für Autofokus und einem chromatischen Linsensystem mit Hochleistungs-LED-Leuchten für sichtbares Licht zur Beleuchtung ausgestattet. Das Autofokus-System ist hochpräzise und der analytische Bereich beträgt bis zu 200mm. Modell VSR kommt mit mehreren Funktionen für Benutzerfreundlichkeit konzipiert. Es verfügt über eine automatisierte Analysefunktion, mit der Anwender große Listen von Oberflächen schnell und genau analysieren können. Es verfügt über ein Softwareprogramm für Parameter wie Schwelle, Wellenlängenzahl und Lichtquellenleistung, wodurch das Gerät leicht an die Anforderungen unterschiedlicher Messungen angepasst werden kann. Darüber hinaus ist die Software kompatibel mit PCs mit Windows XP und höher, was eine einfache Datenerfassung, -speicherung und -analyse ermöglicht. Insgesamt ist NIPPON DENSHOKU Model VSR ein fortschrittliches Ellipsometer, das Anwendern eine effiziente und präzise Methode zur Messung optischer Eigenschaften von Halbleiter- und Dünnschichtoberflächen bietet. Mit einer Reihe von Funktionen, die auf Benutzerfreundlichkeit zugeschnitten sind, ist dieses Gerät eine großartige Lösung für Benutzer, die Oberflächen genau messen und analysieren möchten.