Gebraucht PHILIPS PQ Ruby #9149780 zu verkaufen

Hersteller
PHILIPS
Modell
PQ Ruby
ID: 9149780
Ellipsometer.
PHILIPS PQ Ruby ist ein hochleistungsfähiges spektroskopisches Ellipsometer zur Charakterisierung anorganischer Dünnschichten und anderer Oberflächen. Dieses fortschrittliche Ellipsometer verfügt über einen integrierten Monochromator, eine Laserquelle mit einer oder zwei Wellenlängen, Photodetektoren und einen optionalen Analysator. PQ Ruby hat eine der präzisesten ellipsometrischen Messungen, die möglich sind. Der optische Kopf ist in der Lage, extrem präzise Winkel und Wellenlängen scannt über mehrere Einfallswinkel bei einer einzigen Wellenlänge. Dies ermöglicht eine genaue Bestimmung der optischen Konstanten der Probenoberfläche einschließlich Brechungsindex, Extinktionskoeffizient und Filmdicke. Die Software, die mit PHILIPS PQ Ruby geliefert wird, verfügt über eine einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche, die es dem Benutzer ermöglicht, die Winkel und Wellenlängen des Einfalls festzulegen und eine Möglichkeit zur Analyse der Ergebnisse zur Berechnung der optischen Konstanten bereitzustellen. Die Software enthält auch Echtzeitdaten-Messergebnisse, die im Diagramm- oder Tabellenformat angezeigt werden können. PQ Ruby bietet auch eine Vielzahl von Optionen, die ein Nanospec-Zubehör umfassen, das eine genaue Messung der Dünnschichtdicke und ein bildgebendes Zubehör ermöglicht, das eine direkte Abbildung der Probenoberfläche ermöglichen kann. Das System enthält auch ein Filmforscher-Zubehör, mit dem Spektren über einen Bereich von Winkeln und Wellenlängen aufgenommen werden können. Das System selbst ist für viele verschiedene Arten von Substraten und Probenmaterialien ausgelegt. Dazu gehören Proben mit Schichten von wenigen Nanometern bis zu dicken Schichten von wenigen Mikrometern. Das System verfügt außerdem über ein Temperaturregelungszubehör, mit dem die Temperatur der Probe von Raumtemperatur bis zu hohen Temperaturen variiert werden kann. Insgesamt ist PHILIPS PQ Ruby ein extrem leistungsstarkes Ellipsometer, das zur Charakterisierung anorganischer Dünnschichten und anderer Oberflächen entwickelt wurde. Seine hochpräzise Laserquelle, Monochromator, Photodetektoren und Auswahl an Optionen bieten ein leistungsfähiges und genaues Werkzeug zur genauen Messung von optischen Konstanten und Probendicken. Seine intuitive und benutzerfreundliche Software macht es für die meisten Benutzer einfach zu bedienen.
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