Gebraucht PHILLIPS SD-3400 #293625374 zu verkaufen

PHILLIPS SD-3400 ist ein Ellipsometer für eine äußerst genaue und zuverlässige optische Charakterisierung von dünnen Filmen. Dieses fortschrittliche Technologiegerät ist in der Lage, die Dünnschichtdicke und die Brechungsindizes dieser dünnen Filme zu messen. Dies geschieht durch Ellipsometriemessung, eine optische Technik zur Charakterisierung lokalisierter optischer Eigenschaften eines dünnen Films. Er misst die Veränderung des Polarisationszustandes des von der Dünnfilmprobe reflektierten Lichts, wenn es sich in seiner einfallenden Ebene dreht. Ellipsometriemessungen liefern Informationen über den Brechungsindex und die Dicke dünner Filme von ~ 10nm bis ~ 20 µm. SD-3400 Ellipsometer ist für seine hohe Genauigkeit in der Probenmessung bekannt und erfordert keine Probenvorbereitung oder Kontakt mit der Probe. Dies ermöglicht es Benutzern, Ergebnisse zu erhalten, ohne dass zerstörerische Methoden erforderlich sind. Es hat auch eine hohe Empfindlichkeit durch seine Messung nicht nur des dünnen Films, sondern auch der dünnen Film/Substrat-Grenzfläche mit außergewöhnlicher Reproduzierbarkeit (> 0,1 nm). PHILLIPS SD-3400 Ellipsometer ist für schnelle, genaue und wiederholbare Messungen ausgelegt. Seine automatisierten Systeme ermöglichen es dem Gerät, sich schnell zwischen den Stationen zu bewegen und schnell Ergebnisse mit der Benutzeroberfläche zu erzielen, die eine einfache und intuitive Bedienung für den Benutzer bietet. Das Gerät verfügt auch über eine breite Palette von mehreren Polarimetern, die es Benutzern ermöglichen, Messungen aus mehr als einem Einfallswinkel zu nehmen. Dies erhöht die Fähigkeit eines Benutzers, genauere Ergebnisse zu erhalten. SD-3400 verfügt auch über integrierte Software- und Hardwaretechnologie, die Anwendern bei der Verbesserung ihrer Analyse und Präsentation von Datenergebnissen zugute kommen kann. Es kommt auch mit einem sehr zuverlässigen Lastverriegelungssystem, das die Probe vor Verschmutzung während der Messung schützt. Dieses Merkmal macht es weithin von den Dünnschichtindustrien wie Optoelektronik und Solarzellen übernommen. Dieses fortschrittliche Technologie-Ellipsometer wurde entwickelt, um höchste Genauigkeit und Zuverlässigkeit in der Dünnschichtcharakterisierung mit seinen integrierten und automatisierten Systemen zu bieten. PHILLIPS SD-3400 ist eines der zuverlässigsten Ellipsometer auf dem Markt und am besten für den Einsatz in der Dünnschichtindustrie geeignet.