Gebraucht PHILLIPS SD-3400 #9221001 zu verkaufen

PHILLIPS SD-3400 Ellipsometer ist ein automatisiertes spektroskopisches Einzelproben-Instrument zur Messung der optischen Eigenschaften von Dünnschichtschichten wie Dicke, Brechungsindex und anderen optischen Parametern. SD-3400 Ellipsometer verfügt über eine hochautomatisierte Bedienung mit einer benutzerintuitiven grafischen Oberfläche, die es dem Benutzer ermöglicht, schnell Parameter einzugeben, mehrere Proben mit unterschiedlichen Winkeln und Wellenlängen zu messen und bis zu 4 Kurven gleichzeitig zu erzeugen. Das Instrument verwendet sequentiell polarisierte Lichtquelle und Detektor zur genauen Messung von Winkeln und Intensitäten des von Proben gestreuten Lichts. Es hat auch eine integrierte CCD-Kamera, die für die Bildaufnahme und Anzeige verwendet werden kann. Das Detektormodul befindet sich in der Meßkammer, um eine hohe Genauigkeit zu gewährleisten. PHILLIPS SD-3400 Ellipsometer kann auch für eine breite Reihe der Forschung und Industrieanwendungen, einschließlich Dünnfilmabsetzung und Charakterisierung, Schutzüberzugs, Photovoltaikzellenleistungsprüfung, anatase Schichtenabsetzungscharakterisierung, Halbleiteroblatengerätcharakterisierung und optische Teilanalyse verwertet werden. Es ist in der Lage, Dicke, optische Konstanten (Brechungsindex, Absorptionskoeffizient, Extinktionskoeffizient, Absorptionsquerschnitt usw.), absolute Schichtdickenbestimmung, optische Eigenschaften von Nanostrukturen und ellipsometrische Parameter zu messen. Das System ist mit einer Doppelstrahlkonfiguration ausgeführt, die einen einfallenden und einen Streustrahl aufweist. Diese Konstruktion erhöht die Präzision und Genauigkeit der Optik, insbesondere in Kombination mit dem eingebauten Rotationsanalysator. SD-3400 Ellipsometer kann auch mit einer Vielzahl von Laserquellen integriert werden, die seine Anwendungen deutlich erweitern. Sie weist ferner ein Regelsystem zur Temperaturregelung auf, das zur Untersuchung temperaturabhängiger optischer Eigenschaften der Proben erforderlich ist. PHILLIPS SD-3400 Ellipsometer ist ein wirksames Werkzeug zur Charakterisierung organischer und anorganischer Dünnschichtmaterialien. Mit seiner einfach zu bedienenden grafischen Oberfläche kann das Gerät die optischen Eigenschaften von Proben schnell messen und analysieren und ist damit eine bevorzugte Wahl in der Branche. Es eignet sich gut für die Erforschung und Charakterisierung von optischen Bauelementen, Schutzschichten, Photovoltaikzellen und Halbleitern.