Gebraucht PLASMOS SD 2000 #293621181 zu verkaufen

Hersteller
PLASMOS
Modell
SD 2000
ID: 293621181
Automatic ellipsometer.
PLASMOS SD 2000 ist ein Ellipsometer, ein typisches Charakterisierungswerkzeug zur Messung der Dicke und optischen Eigenschaften dünner Mehrschichtfolien auf Substraten. Es misst die Polarisationsänderung eines einzelnen Lasers, während es sich durch einen dünnen Film und Substratstapel ausbreitet. Diese Technik ist zerstörungsfrei und liefert äußerst präzise Ergebnisse mit einer Genauigkeit von 0,1-1 Å in Dünnschichtdicke und innerhalb von 0,1-2 ° in optischen Parametern. SD 2000 verwendet kostengünstige Hochleistungs-Laserquellen, einstellbaren Monochromator, der die spektrale Auflösung optimiert, und einzelne oder mehrere Detektoren. PLASMOS SD 2000 bietet einen breiten Betriebsspektralbereich von 350-1750 nm in ein oder zwei Laserwellenlängen. Dieses System ist mit einer einzigartigen Dual- Detector™-Technologie ausgestattet, bei der zwei Detektoren, die beide auf einem einzigen Sensorkopf messen, das reflektierte Licht in zwei verschiedenen Winkeln messen. Dies ermöglicht die gleichzeitige Messung von Doppelschnittstellenproben und Dreischichtproben. Das System bietet auch mehrere Auto-Modi und bietet die Möglichkeit, dicke Proben, hochreflektierende Proben und sogar verzogene Oberflächen zu analysieren. Der Datenerfassungsprozess ist extrem schnell, so dass Benutzer Daten erfassen und sinnvolle Ergebnisse in einem Bruchteil der üblicherweise benötigten Zeit generieren können. SD 2000 verfügt über eine Reihe fortschrittlicher Softwarewerkzeuge, die an die Analyse von Dünnschichtproben angepasst sind, einschließlich dedizierter Software zur Charakterisierung einer Vielzahl von Substraten, Filmen und Schichten. Es enthält ein proprietäres Modul, das benutzerdefinierte Messungen von optischen Konstanten und Schichtfunktionen ermöglicht. PLASMOS SD 2000 bietet auch spezielle Module zur fortgeschrittenen absoluten Messung von Ein- und Doppelschichtfoliendicke und Schichtbrechungsindex. SD 2000 ist für eine breite Palette von Labor- und Produktionsanwendungen konzipiert, einschließlich Dünnfilm-optische Beschichtungen, Halbleiterbauelementherstellung, Abscheidungsprozesssteuerung, Anzeigematerialien, magnetische Medien und mehr. Es eignet sich für eine Vielzahl von Substraten wie Glas, Keramik, Silizium, Quarz, Kunststoff und Papier. Seine Präzision, Genauigkeit und Vielseitigkeit machen es zu einem bevorzugten Werkzeug für Qualitätskontrolle, Forschung und Entwicklung.
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