Gebraucht PLASMOS SD 2000 #9010339 zu verkaufen
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ID: 9010339
Wafergröße: 8"
Weinlese: 1994
Thin film thickness measurement system / automatic ellipsometer, 8"
Illumination source type: HeNe laser
Scanning stage: yes
CPU: Vero EMV0PCIP21 8S
Controller type: PC/VME
Software Rev.: 6.28F
External cooling: air cooled
Autofocus system: Electrophysics AF-759 microscope
Objective: Leitz Plan 10x/.2
CCD camera: Teli CS-8310b
(2) PMS ports
(1) PPZ2 port
(1) PTV portPower: 230V, 50/60Hz
1994 vintage.
PLASMOS SD 2000 ist ein automatisiertes computergesteuertes Ellipsometer, mit dem Dünnschichtmaterialien gemessen werden. Es ist ein fortschrittliches optisches Instrument, das Licht verwendet, um die optischen Eigenschaften von Dünnschichten und Dünnschichtkomponenten zu messen. Das Ellipsometer verwendet polarisiertes Licht, um die optischen Eigenschaften einer Probe zu messen. Das Licht wird auf die Probe projiziert und ein Teil des Lichts von der Probenoberfläche reflektiert. Das reflektierte Licht wird analysiert und der Polarisationszustand des Lichts gemessen. Hieraus können Informationen über die Materialdicke, optische Konstanten und andere optische Eigenschaften der Probe gewonnen werden. SD 2000 hat einen breiten Betriebsbereich von 350-1700 Nanometern mit einer maximalen Auflösung von 0,01 Grad, so dass es für den Einsatz mit Dünnschichtmaterialien von sehr hoher Präzision geeignet ist. Das Ellipsometer hat einen Variabilitätsbereich von 0,2 bis 10 Nanometern der Foliendicke und eine Packungsdichte von 10%, was für die Untersuchung sehr dünner Schichten nützlich ist. PLASMOS SD 2000 bietet auch erweiterte Programmierfunktionen, wie die Einstellung des Probenwinkels und der Probenpolarisation. Die Software enthält eine breite Palette von Standard-Filmmodellen, die ausgewählt werden können, um die optischen Eigenschaften der Probe zu berechnen. Der gesamte Betrieb des Gerätes wird vom PC-Rechner automatisiert und gesteuert, was dem Bediener eine große Flexibilität bei der Durchführung von Messungen ermöglicht. Der Benutzer kann verschiedene Parameter wie Polarisationswinkel, Leistung, Wellenlänge und mehr steuern. SD 2000 ist ideal für die Prüfung von Dünnschichtmaterialien auf laterale Homogenität, optische Konstanten, Absorption, Verzögerung und Dicke in einer Vielzahl von Anwendungen, wie optische Beschichtungen, transparente Leiter, Epi-Schichten, Optik und vieles mehr. PLASMOS SD 2000 bietet dank seiner fortschrittlichen Funktionen und Fähigkeiten großen Komfort und Genauigkeit für zuverlässige Messungen.
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